Содержание
Введение.
Глава 1. Обзор литературы
1.1 Контактный и полу контактный режим работы атомносилового микроскопа.
1.2 Визуализация слоев гетероструктур с квантовыми ямами в контактном и полуконтактном режиме работы атомносилового микроскопа.
1.3 Метод сканирующей микроскопии сопротивления растекания
1.4 Визуализация слоев гетсроструктур с квантовыми ямами методом сканирующей микроскопии сопротивления растекания.
1.5 Влияние подсветки излучением встроенного в атомносиловой микроскоп лазера на токовые измерения.
1.6 Выводы из обзора
Глава 2. Исследование гетероструктур с квантовыми ямами и брэгговскими зеркалами в контактном и полуконтактном режиме сканирования.
2.1 Экспериментальная установка и методика исследования.
2.2 Визуализация слоев гетероструктур на сколах в контактном и полуконтактном режиме сканирования.
2.3 Моделирование рельефа, формирующегося на поверхности скола гетероструктур в результате релаксации внутренних упругих напряжений и оценка
химического состава квантовых ям
Глава 3. Исследование нелегированных гетероструктур с квантовыми ямами в режиме сканирующей микроскопии сопротивления растекания.
3.1 Получение изображения квантовых ям на сколах гетероструктур СапРАЮапР и СсБпЭЗе.
3.2 Влияние подсветки излучением с различным спектральным составом.
3.3 Локальные вольтамперные характеристики
3.4 Механизм токопереноса в контактах зонда со слоями гетероструктур
3.5 Оценка концентрации носителей в квантовых ямах вапРАЮапР и Сс2пе
3.6 Механизм визуализации слоев гетероструктур на сколе в режиме сканирующей микроскопии сопротивления растекания.
Заключение.
Список литературы
- Київ+380960830922