Ви є тут

Приборы и методы сканирующей зондовой микроскопии для исследования и модификации поверхностей

Автор: 

Быков Виктор Александрович

Тип роботи: 

докторская

Рік: 

2000

Кількість сторінок: 

402

Артикул:

1000299971

179 грн

Додати в кошик

• 
• 
• 

Рекомендовані дисертації

• Кинетические явления в структурах на основе графена и его модификаций
• Модовая структура и нелинейные эффекты в резонансных и нерезонансных фотонных кристаллах
• Разработка и исследование объемных ВТСП изделий из иттриевой керамики и электронных устройств на их основе
• Разработка интегральной микросхемы частотного компаратора для блока управления экономайзером отечественных легковых автомобилей
• Электронные свойства структур с квантовой ямой InxGa1-xAs (0.2 ≤ x ≤ 0.6) на подложках GaAs и InP
• Разработка диплексеров в широком диапазоне частот
• Моделирование туннельно-резонансного ЯМР квантового компьютера на основе твердотельных наноструктур
• Моделирование и схемотехника СВЧ-транзисторного генератора с невзаимным элементом в цепи обратной связи
• Исследование процессов низкотемпературного плазмостимулированного роста пленок диоксида циркония, стабилизированного иттрием
• Композитные тонкопленочные сегнетоэлектрические структуры на основе цирконата-титаната свинца и титаната бария