Содержание
Введение
ГЛАВА 1. Аппаратура и методика эксперимента. Образцы
1.1. Импульсный ЯМРЯКР спектрометр с цифровым управлением
1.2. Криогенное оборудование. Термометрия
1.3. Методика измерения спектров ЯКР, времен спинрешеточной и поперечной релаксации
1.4. Образцы.
ГЛАВА 2. Исследования спектров ЯКР Си2 в соединениях УВагСизО, ТтВагСизО и ТтВагСщОг. Анализ формы линии спектров в рамках модели сужения благодаря движению .
2.1. Проблема формы линии в ВТСП.
2.2. Теоретическое описание сужения спектральных линий, обусловленного движением.
2.3. Спектры ЯКР Си2 в УРгхВагСизО х 0, 0.1 разложение на компоненты и получение неискаженных спектров.
2.4. Спектр ЯКР Си2 в Уо.уРВагСизО при Т 0 К пробное описание в модели движущихся полос.
2.5. Форма линии ЯКР Си2 в соединениях УВагСизО, ТшВагСизО и ТтВагСОа
ГЛАВА 3. Исследования спектров ЯКР Си2 и Си1 в соединениях УВа2Сизу Температурная зависимость ширины линии ЯКР
3.1. Проблема дополнительного ушпрения линий ЯКР Си2 и Си1 в ВТСП со структурой и ниже Тс.
3.2. Спектры ЯКР Си2 и Си1 в УВагСизО.
3.3. О влиянии поверхности кристаллитов на ширину линии ЯКР меди
3.4. Псевдощелевое состояние ВТСП.
3.5. Расчет температурной зависимости ширины линии ЯКР Си2 в УВагСизОу
ГЛАВА 4. Исследования продольной и поперечной релаксации ядер Си2 и Си1 в УВагСизСЬу. Фазовая диаграмма УВа2Сизу при Т Тс
4.1. Аномалии в поперечной релаксации ядер Си2 в УВаСизО обзор литературных данных.
4.2. Теория поперечной релаксации ядер Си2 в УВаСиО.
4.3. Поперечная релаксация ядер Си2 в УВагСизСЬу.
4.4. Поперечная релаксация ядер Си1 в УВа2СизОту
4.5. Продольная релаксация ядер Си2 и Си1 в УВа2Сизу
4.6. Анализ экспериментальных результатов. Фазовая диаграмма УВагСизСЬу при Т ТсИЗ
Заключение
Литература
- Київ+380960830922