Ви є тут

Разработка методов сканирующей зондовой микроскопии для изучения механических и топологических характеристик поверхностей

Автор: 

Гоголинский Кирилл Валерьевич

Тип роботи: 

кандидатская

Рік: 

2000

Кількість сторінок: 

164

Артикул:

1000288026

179 грн

Додати в кошик

• 
• 
• 

Рекомендовані дисертації

• Методы и средства прогнозирования стойкости ПЛИС к воздействию радиационных факторов космического пространства
• Моделирование радиационных отказов пьезопреобразователей механических величин на кремниевых, карбидкремниевых и диэлектрических структурах
• Микрорезонаторные волоконно-оптические датчики и системы измерения физических величин на их основе
• Маломощные цифровые сложнофункциональные блоки КМОП СБИС
• Разработка измерительных и управляющих устройств для автоматизации свеклоуборочных комплексов
• Оптико-электронные устройства получения первичной информации систем экологического мониторинга и управления качеством окружающей среды
• Архитектура и схемотехника аналоговых микросхем с собственной и взаимной компенсацией импедансов
• Проектирование устройств цифровой обработки сигналов в режиме реального времени для многоканальных акустических систем
• Анализ и разработка методов повышения надежности полупроводниковых постоянных запоминающих устройств и оценка эффективности их использования
• Формирователь сигнала параметрических датчиков "токовая петля" и его применение в высокоточных измерительных и управляющих системах