Ви є тут

Методы и средства прогнозирования радиационной стойкости микропроцессорных СБИС

Автор: 
Некрасов Павел Владимирович
Тип роботи: 
кандидатская
Рік: 
2010
Кількість сторінок: 
127
Артикул:
175775
179 грн
Додати в кошик

Вміст

Введение. Общая характеристика работы.
Глава 1 .Доминирующие радиационные эффекты в МП СБИС.
1.1 Доминирующие механизмы радиационных отказов МП СБИС.
1.2. Радиационные эффекты при импульсном ионизирующем воздействии.
1.3. Радиационные эффекты в МП СБИС при воздействии стационарного ионизирующего излучения.
1.4. Радиационные эффекты в МП СБИС при воздействии отдельных ядсрных частиц.
1.5. Выводы.
Глава 2.Мстоды и средства радиационных испытаний МП СБИС.
2.1. Обзор средств радиационных исследований МП СБИС.
2.1.1. Радиационные исследования с использованием МУ.
2.1.2. Радиационные исследования с использованием имитационных методов.
2.1.3 Имитация импульсного ионизирующего излучения.
2.1.4 Имитация стационарного лозового воздействия.
2.2. Обзор методов функционального контроля МП СБИС при проведении радиационных испытаний.
2.3 Обзор основных методов ФК МП СБИС при проведении радиационных испытаний.
2.3.1. Метод упрощенного ФК.
2.3.2. Метод ФК в составе реального устройства.
2.3.3. Метод псевдодинамического ФК.
2.3.4. Функциональный контроль с использованием метода формирования тестовых наборов команд.
2.3.5. Метод полного ФК.
2.3.6. Метод выборочного ФК.
2.4. Выводы. .
Глава 3. Результаты радиационных испытаний МП СБИС.
3.1 Испытания МП СБИС с использованием различных методов тестирования.
3.1.1. Испытание МП ВМ1 методом упрощенного, полного и выборочного ФК.
3.1.2. Испытание МП ВМ1 методом упрощенного ФК и в составе реального устройства.
3.1.3. Испытание МК ВЕ1У методом выборочного ФК.
3.1.4. Испытание МП ВЕ1У методом упрощенного ФК и в составе
реального устройства.
3.1.5. Испытание МП I методами упрощенного и выборочного
3.1.6. Испытание МК ВЕ5У методом упрощенного и выборочного функционального контроля.
3.2. Определение глубины тестирования для разных видов МП СБИС.
3.3. Выводы
Глава 4. Аппаратнопрограммные средства ФК МП СБИС.
4.1. Требования к устройствам функционального контроля при проведении радиационных испытаний.
4.2. Промышленные комплексы ФК СБИС.
4.2.1. Тестеры фирмы i i.
4.2.2. Тестеры фирмы ФОРМ.
4.3. Универсальное устройство для ФК МП при проведении радиационных испытаний.
4.3.1. Структура БФК МП.
4.3.2. Реализация и конструкция БФК.
4.3.3. Программное обеспечение БФК и процесса тестирования МП.
4.3.4. Алгоритм работы БФК.
4.4. Универсальная система функционального контроля на базе плат i I.
4.5. Оптимизированная структура аппаратно программного комплекса на базе аппаратуры фирмы i I 1 с использованием программного обеспечения Vi.
4.6. Выводы.
Глава 5. Методика проведения радиационных испытаний МП СБИС.
5.1. Выбор интервалов облучения МП СБИС при лотовом воздействии.
5.2. Определение корреляции функционирования микропроцессоров с дозовым изменением их параметров.
5.3 Методика функционального контроля МП СБИС.
5.3.1 Обобщенная структура и методика тестирования функциональных блоков МП СБИС.
5.3.2. Методика подготовки и проведения радиационного эксперимента МП СБИС.
5.4. Выводы.
Заключение.
Список литературы