- Київ+380960830922
Ви є тут
Введіть ключові слова для пошуку дисертацій:
Атомно-силовая микроскопия заращенных Si,Ge наноразмерных островков : диагностика и зарядовая нанолитография
Тип роботи:
диагностика и зарядовая нанолитография
Рік:
2007
Кількість сторінок:
163
Артикул:
7250 179 грн
Рекомендовані дисертації
- Герметичные модули для термопарных (ХА) кабелей гермовводов на основе стеклокристаллических и керамических материалов
- Фотопроводимость в магнитном поле и фотомагнитный эффект в плёнках МЛЭ p-CdxHg1-xTe
- Исследование фосфида индия, арсенида галлия и их твердых растворов методами фото- и электроотражения
- Преципитация кислорода в кремнии, легированном цирконием
- Экситоны, связанные на изоэлектронных примесях в многодолинных полупроводниках с вырожденными зонами азот и висмут в GaP
- Внутризонные переходы неравновесных носителей заряда в GaAs/AlGaAs квантовых ямах
- Эффективность белого свечения гетероструктур на основе твердого раствора InGaN с люминофором
- Моделирование электронной структуры квантовых точек Ge B Si
- Оптические явления в соединениях Pb1-xSnxTe обусловленные свободными носителями
- Исследование магнитных явлений в легированных полупроводниках