Методы и средства измерения амплитудно-временных параметров наносекундных импульсных сигналов цифровых ИС

СОДЕРЖАНИЕ
ВВЕДЕНИЕ .
Глава I. МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЯ И КОНТРОЛЯ ПАРАМЕТРОВ
ЛОГИЧЕСКИХ УЗЛОВ
1.1. Краткая характеристика амплитудновременных параметров современных ИС .
1.2. Виды измерения и контроля параметров .
логических узлов
1.3. Методы измерения амплитудных параметров сигналов логических узлов .
1.4. Методы измерения временных параметров сигналов логических узлов .
1.5. Выводы. Постановка задачи исследований
Глава 2. ИЗМЕРЕНИЕ АМПЛИТУДЫ ПОВТОРЯЮЩИХСЯ НАНОСЕКУНДНЫХ ИМПУЛЬСОВ В УСЛОВИЯХ ВОЗДЕЙСТВИЯ ПОМЕХ
2.1. Алгоритмы измерения амплитуды импульсов на основе процедуры стохастической аппроксимации .
2.2. Алгоритмы измерения амплитуды импульсов на основе адаптивной процедуры РоббинсаМонро
2.3. Микропроцессорная реализация стохастических алгоритмов измерения амплитуды импульсов.Анализ
основных аппаратурных погрешностей .
2.4. Основные результаты и выводы .
Глава 3. ИЗМЕРЕНИЕ ДЛИТЕЛЬНОСТИ ПОВТОРЯЮЩИХСЯ
НАНОСЕКУНДНЫХ ИМПУЛЬСОВ
3.1. Влияние параметров и вида закона распределения длительностей пауз мевду измеряемыми временными интервалами на среднеквадратическую погрешность измерения
3.2. Алгоритм измерения временных интервалов при постоянном шаге перестройки периода квантования .
3.3. Алгоритм измерения временных интервалов при перестройке периода квантования на основе процедуры стохастической аппроксимации . III
3.4. Реализация алгоритмов стохастического измерения временных интервалов .
3.5. Основные результаты и выводы
Глава 4. ПРАКТИКА РАЗРАБОТКИ УСТРОЙСТВ ИЗМЕРЕНИЯ
И КОНТРОЛЯ ПАРАМЕТРОВ ЛОГИЧЕСКИХ УЗЛОВ .
4.1. Устройство автоматизированного параметрического контроля
4.2. Многоканальный стохастический микропроцессорный АЦП
4.3. Анализатор параметров цифровых систем АПЦС2У
4.4. Сигнатурная приставка
4.5. Выводы.
ЗАКЛЮЧЕНИЕ
ЛИТЕРАТУРА