Разработка методов имитационного моделирования для определения погрешностей результатов измерений процессорных измерительных средств

ОГЛАВЛЕНИЕ
Перечень основных сокращений
Перечень основных обозначений.
ВВЕДЕН ИЕ
1. ПОГРЕШНОСТИ РЕЗУЛЬТАТОВ ИЗМЕРЕНИЙ ПРОЦЕССОРНЫХ ИЗМЕРИТЕЛЬНЫХ СРЕДСТВ.
1.1. Уравнение измерений процессорных измерительных
средств. Классификация погрешностей.
I 2. Погрешности аналоговых и аналогоцифровых
преобразований. Методы исследований.
1.3. Погрешности цифровых преобразований. Методы исследований
1.4. Выводы по главе 1.
2. ИМИТАЦИОННОЕ МОДЕЛИРОВАНИЕ ПРОЦЕССОРНЫХ
ИЗМЕРИТЕЛЬНЫХ СРЕДСТВ
2.1. Методика ИМ для определения методических погрешностей результатов измерений процессорных ИС.
2.2. Моделирование реализаций оператора цифровых преобразований
2.3. Определение погрешностей измерений процессорных ИС по погрешностям их компонент. Робастное ИМ.
2.4. Определение числа экспериментов при ИМ
2.5. Выводы по главе 2.
3. ИССЛЕДОВАНИЕ МЕТОДИЧЕСКИХ ПОГРЕШНОСТЕЙ РЕЗУЛЬТАТОВ ИЗМЕРЕНИЙ ЗНАЧЕНИЙ ОЦЕНОК ОДНОМЕРНОЙ ИНТЕГРАЛЬНОЙ
ФУНКЦИИ РАСПРЕДЕЛЕНИЯ ВЕРОЯТНОСТЕЙ
3.1. Методика ИМ для определения методических погрешностей результатов измерений значений оценок ВХ, проводимых процессорными ИС.
3.2. Методика ИМ для исследования методических погрешностей результатов измерений значений оценок ФРВ
3.3. Погрешность от конечности выборки при измерении значений одномерной ФРВ
3.4. Погрешность квантования мгновенных значений случайного процесса при измерении значений оценок ФРЗ
3.5. Погрешность реализации оператора при измерении значений оценок одномерной ФРВ
3.6. Методическая погрешность реализации усреднения при измерении значений оценок одномерной ФРВ
3.7. Выводы по главе 3.
4. ИССЛЕДОВАНИЕ ХАРАКТЕРИСТИК ПОГРЕИНОСТЕЙ РЕЗУЛЬТАТОВ
ИЗМЕРЕНИЙ ПАРАМЕТРОВ МОНОКРИСТАЛЛА ГЕРМАНИЯ, ПРОВОДИМЫХ ПРОЦЕССОРНЫМИ ИС.
4.1. Постановка задачи определения характеристик погрешностей результатов измерений параметров монокристалла германия
4.2. Модель измерительного эксперимента для определения погрешностей результатов измерений параметров монокристалла германия
4.3. Планирование эксперимента для определения оценок характеристик погрешностей измерений параметров полупроводников методом ИЛ
4.4. Определение верхних оценок характеристик погрешностей результатов измерений параметров полупроводников
4.5. Выводы по главе 4.
ЗАКЛЮЧЕНИЕ.
ЛИТЕРАТУРА