Ви є тут

Разработка методик многофакторного анализа технологических измерений и проектирования параметров технологической линии при производстве ракетно-космической техники

Автор: 
Шишкин Андрей Юрьевич
Тип роботи: 
кандидатская
Рік: 
2007
Кількість сторінок: 
112
Артикул:
243592
179 грн
Додати в кошик

Вміст

ОГЛАВЛЕНИЕ.
Введение.
Глава 1. Анализ существующих решений оптимизационных задач измерений
технологических параметров, их особенности и недостаточность на современном
производстве ракетнокосмической техники РКТ.
1.1. Анализ особенностей метрологического обеспечения производства ракетнокосмической техники в современных условиях.
1.2. Анализ существующих решений оптимизационных задач измерений технологических параметров, их особенности и недостаточность на
современном производстве ракетнокосмической техники 2 i
Глава2. Определяющая роль влияющих факторов на превышение дисперсии результатов измерений над дисперсией технологических отклонений на современном производстве РКТ.
2.1. Исследование данных измерительной информации на производствах с различными отношениями технологических отклонений к допускам. 2
2.2. Анализ проблемы негативного воздействия влияющих факторов на высокую дисперсию результатов измерений технологических параметров и пути ее решения.
ГлаваЗ. Методика многофакторного анализа технологических измерений.
3.1.Анализ факторов, влияющих на результаты технологических измерений и оптимизация условий их выполнения. Ц
3.2. Описание методики многофакторного анализа.
Глава 4. Методика проектирования параметров технологической линии.
4.1.Сущность проектирования параметров технологической линии. Л
4.2. Статистически планируемый эксперимент как метод проектирования параметров технологической линии.
Заключение.
Приложение.

Библиографический список
ВВЕДЕНИЕ
Актуальность