- Київ+380960830922
Ви є тут
Введіть ключові слова для пошуку дисертацій:
Разработка объективных методов контроля качества изображения в микроскопе
Тип роботи:
кандидатская
Рік:
2010
Кількість сторінок:
157
Артикул:
243423 179 грн
Рекомендовані дисертації
- Анализ параметров двумерных картин интерференционных полос на основе нелинейной адаптивной фильтрации
- Разработка лазерных систем видения на основе имитационного моделирования
- Кератометрические оптические системы
- Лучевая прочность диэлектрических зеркал для ближнего ИК диапазона
- Разработка и исследование дифракционных методов измерений на основе зеркальной апертуры
- Синтез линзовых видеообъективов
- Поляризационно-оптические методы исследования и контроля физико-технических характеристик поверхностных слоев элементов оптотехники
- Разработка методов расчета и обработки рефракционных картин в лазерной системе визуализации тепловых полей
- Оптико-электронные приборы, методы и информационное обеспечение контроля реакций биообъекта на лазерное воздействие
- Автоматизированная система формообразования асферических крупногабаритных оптических деталей