Ви є тут

Диагностика источников электронов по двумерным изображениям

Автор: 

Чебуркин Александр Николаевич

Тип роботи: 

кандидатская

Рік: 

2001

Кількість сторінок: 

126

Артикул:

1000334663

179 грн

Додати в кошик

• 
• 
• 

Рекомендовані дисертації

• Кольцевые вихри в ограниченных сверхпроводниках
• Исследование и разработка GaAs СВЧ транзисторов, переключательных и ограничительных диодов и интегральных схем для модулей АФАР
• Исследование функциональных характеристик сенсоров газов на основе газочувствительных материалов с рабочими температурами 20-200°C
• Неразрушающие высоколокальные методы электронно-зондовой диагностики приборных структур микро- и наноэлектроники
• Исследование и разработка конструктивно-технологических решений по расширению области безопасной работы мощных КНИ МОП-транзисторов интеллектуальных силовых интегральных схем
• Исследование предельных режимов возбуждения поликристаллических электролюминесцентных излучающих структур
• Локальная диагностика объектов микро-, нано- и оптоэлектроники в вакууме, газе и жидкости методами сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии
• Разработка методов построения и моделирования интегральных систем оптической коммутации многоядерных УБИС
• Экспериментальное исследование когерентного излучения в распределённых джозефсоновских системах
• Тонкопленочные структуры молибден-медь с эффектом близости и сверхпроводниковым переходом для сверхчувствительных субмиллиметровых болометров