Ви є тут

Электронная сканирующая микроскопия и локальный рентгеноспектральный анализ для исследования химико-физических процессов в материалах, используемых в энергетике и аэрокосмической технике

Автор: 

Пшеченков Павел Александрович

Тип роботи: 

диссертация кандидата физико-математических наук

Рік: 

2007

Кількість сторінок: 

149

Артикул:

7666

179 грн

Додати в кошик

Рекомендовані дисертації

• Исследование и разработка физических методов проектирования высокоизбирательных акустоэлектронных приборов с малым вносимым затуханием
• Системы авторегулирования, исследование и анализ работы электронного магнитного спектрометра
• Диагностика плотности свободных электронов в плазме по энергетическим потерям быстрых протонов
• Интегральные устройства на сверхпроводниковых туннельных переходах для приемников миллиметровых и субмиллиметровых волн
• Сцинтилляционные детекторы установки CDF II в экспериментах по физике тяжёлых кварков на тэватроне
• Времяпролетная масс-спектрометрия биополимеров на основе планарных многоотражательных анализаторов
• Методы расчета и анализ характеристик электромагнитных полей в ТЕМ-камерах
• Поляризационные радиотепловые методы в исследованиях параметров морского волнения
• Адаптивная система управления процессами роста кристаллов для методов Степанова и Чохральского
• Некоторые оптико-механические взаимодействия в высокодобротных оптических резонаторах, и их применение в физических измерениях