Вы здесь

Диагностический контроль качества и надежности кремниевых биполярных интегральных схем

Автор: 

Бордюжа Олег Леонидович

Тип работы: 

Кандидатская

Год: 

1998

Артикул:

1000212270

179 грн

Добавить в корзину

• 
• 
• 

Рекомендуемые диссертации

• Методы построения источников опорного напряжения в составе интегральных микросхем
• Разработка измерительных программ для ИС К174 с применением методов электрофизического диагностирования в условиях массового производства
• Нелинейное взаимодействие модулированного света и переменного электрического поля в полупроводниковых фотоприемниках
• Разработка конструкции и технологии формирования радиационно-стойких биполярных полупроводниковых структур
• Экспериментальное исследование когерентного излучения в распределённых джозефсоновских системах
• Неразрушающие высоколокальные методы электронно-зондовой диагностики приборных структур микро- и наноэлектроники
• Лазерное напыление и исследование пленок высокотемпературного сверхпроводника YBa2 Cu3 O7- ? для применений в пассивных высокочастотных устройствах
• Исследование и создание гибридно-монолитных СВЧ - генераторов и преобразователей частоты на универсальных активных GaAs МИС в диапазоне частот 1...18 ГГЦ
• Неравновесная населенность мелких примесных состояний в полупроводниках и усиление излучения длинноволнового инфракрасного диапазона
• Создание высокоэффективных теплоотводов на основе поликристаллического алмаза для мощных полупроводниковых приборов