Оглавление
Введение
1 Исследование методов построения тестовых программ
1.1 Системное тестирование микропроцессоров.
1.2 Тестирование подсистем управления памяти
1.3 Методы целенаправленного построения тестовых программ . .
1.3.1 Методы на основе массовой генерации тестовых программ
1.3.2 Методы непосредственного построения тестовых
программ.
1.4 Анализ существующих методов целенаправленного построения тестовых программ.
1.5 Уточненная постановка задачи.
2 Описание предлагаемых методов и моделей
2.1 Подход к генерации тестовых программ.
2.2 Моделирование устройств подсистемы
управления памяти и вариантов исполнения инструкций .
2.3 Метод построения ограничений.
2.3.1 Алгоритмы.
2.3.2 Таблицы вытеснения.
2.3.3 Существенно вытесняющие стратегии вытеснения .
2.4 Новое определение стратегии вытеснения
2.5 Метод полезных обращений для записи стратегии вытеснения
в виде ограничений
2.5.1 Метод полезных обращений для стратегии вытеснения
2.5.2 Метод полезных обращений для стратегии вытеснения I
2.5.3 Метод полезных обращений для стратегии вытеснения
2.5.4 Разрешение ограничений, описывающих стратегии вытеснения .
2.6 Конструирование текста тестовой программы.
3 Применение предлагаемых методов, сравнение с аналогами
3.1 Генерация тестов для архитектуры I.
3.2 Генерация тестов для архитектуры
3.3 Генерация тестов для архитектуры 1А
3.4 Экспериментальная реализация программного средства для генерации тестовых программ
3.5 Эксперименты по оценке допустимой сложности тестовых шаблонов
3.6 Сравнение с .
3.7 Сравнение с работами I
Заключение
А Доказательства теорем и лемм
Б Пример описания варианта исполнения инструкции
В Грамматика языка описания вариантов исполнения инструкций
Г Формальное определение семантики языка описания вариантов исполнения инструкций
Литература