Ви є тут

Система обеспечение качества полупроводниковых материалов для приборов и устройств квантовой и оптоэлектроники на основе Cals-технологий

Автор: 
Каневский Владимир Евгеньевич
Тип роботи: 
кандидатская
Рік: 
2010
Кількість сторінок: 
129
Артикул:
245821
109 грн
Додати в кошик

Вміст

ВВЕДЕНИЕ
Глава 1 Жизненный цикл получения материалов полупроводниковых соединений для приборов и устройств электронной техники военного и двойного назначения.
1.1 Технология разработки и изготовления полупроводниковых материалов для приборов и устройств электронной техники.
1.1.1 Технология получения материалов группы Л2ВГ для ИКтехники.
1.1.2 Технология получения материалов группы А3В5 для ИКтехники
1.1.3 Технология получения материалов для детекторов ионизирующих излучений.
1.2 Нормативнометодическое обеспечение качества материалов полупроводниковых соединений для приборов и устройств электронной техники военного и двойного назначения.
1.3 Метрологическое обеспечение качества материалов полупроводниковых соединений для приборов и устройств электронной техники военного и двойного назначения.
1.4 Обеспечение качества полупроводниковых материалов для приборов и устройств квантовой и оптоэлектроники военного и двойного назначения на основе документированной Системы менеджмента качества. Анализ особенностей и определение направления развития.
1.4.1 Структура документации СМК.
1.4.2 Структура процессов СМК
1.4.3 Описание процессов, процедур и функций.
1.4.4 Анализ особенностей и определение направления развития
1.5 Постановка задачи обеспечение качества полупроводниковых материалов для приборов и устройств квантовой и оптоэлектроиики военного и двойного назначения на основе САЬБтехнологий.
Выводы.
Глава 2 Принципы обеспечения качества полупроводниковых
материалов для приборов и устройств квантовой и
оптоэлектроники военного и двойного назначения на основе САГБтехнологий
2.1 САЬ8технологии.
2.2 Анализ нормативной базы, регламентирующей применение САЬБтехнологий.
2.3 Разработка принципов организации ИИС
2.4 Струкгура информационных объектов.
2.4.1 Информационный объект СМК.
2.4.2 Информационный объект Документация
2.4.3 Интегрированная информационная среда
2.5 Организационная структура СМК на основе САЬЗтсхнологий
Глава 3 Нормативные документы в электронном формате СМК
полупроводниковых материалов для приборов и устройств квантовой и опгоэлектроники военного и двойного назначения на основе СЛЕтехнологий
3.1 Струкгура комплекса нормативных документов СМК
3.2 Порядок присваивания обозначений. Электронный документ, регламентирующий порядок обозначений.
3.3 Нормативный документ описывающий ИИС
3.4 Электронный документ, описывающий формальные
функциональные модели ФФМ
3.5 Электронный документ Информационный объект СМК.
3.6 Электронный документ Информационный объект
Документация.
3.7 Электронный документ описывающий струкгуру баз данных.
Глава 4 Мониторинг СМК, критерии результативности и оценка
эффективности внедрения СМК на основе САЬ8технологий
4.1 Система мониторинга и алгоритм получения информации.
4.2 Критерии результативности
4.3 Оценка эффективности внедрения СМК на основе СДЬБтехнологий
Выводы.
Основные выводы
Список использованных источников