Исследование и разработка методов и средств проектирования микросистем высокой надежности

СОДЕРЖАНИЕ
ВВЕДЕНИЕ.
1. МЕТОДЫ ОБЕСПЕЧЕНИЯ ВЫСОКОЙ НАДЕЖНОСТИ МИКРОСИСТЕМ.
1.1. Конструкторские методы повышения надежности
и выхода годных микросистем.
1.2. Математические модели для расчета надежности и выхода годных микросистем.
1.3. Модели расчета выхода годных межсоединений
в микросистемах.
1.4. Методы повышения надежности с помощью
средств самотестирования
1.5. Влияние ионизирующего излучения на МОПэлемеиты.
1.6. Методы синтеза реконфигурируемых микросистем
высокой надежности
1.7. Выводы.
2. РАЗРАБОТКА И ИССЛЕДОВАНИЕ МОДЕЛЕЙ И МЕТОДОВ МОДЕЛИРОВАНИЯ НАДЕЖНОСТИ И ВЫХОДА ГОДНЫХ
РЕЗЕРВИРУЕМЫХ МИКРОСИСТЕМ.
2.1 .Сравнительный анализ методов резервирования микросистем .
2.2. Разработка и исследование моделей надежности межэлементных соединений в микросистеме с учетом
процесса электромиграции
2.3. Выводы.
3. РАЗРАБОТКА И ИССЛЕДОВАНИЕ МЕТОДОВ И СРЕДСТВ РЕКОНФИГУРАЦИИ МИКРОСИСТЕМ
3.1. Разработка и исследование методов и средств перестройки
и тестирования структуры микросистем.
3.1.1. Разработка и исследование методов и средств перестройки и тестирования структуры микросистем с поэлементным резервированием
3.1.2. Разработка и исследование методов и средств перестройки и тестирования структуры микросистем
со скользящим резервированием
3.1.3. Сравнительный анализ устройств самотестирования и реконфигурации шин со структурным резервированием
3.2. Разработка и исследование метода повышения допустимой дозы ионизирующих излучений микросистем на основе КМОПСБИС посредством структурного резервирования.
3.3. Выводы
4. РАЗРАБОТКА И ИССЛЕДОВАНИЕ МЕТОДОВ СИ1 ГРЕЗА СТРУКТУРЫ ВЫСОКОНАДЕЖНЫХ МИКРОСИСТЕМ.
4.1. Разработка метода синтеза структуры микросистем с оптимальным резервированием.
4.2. Разработка и исследование алгоритма синтеза оптимизированной структуры резервируемых микросистем.
4.3. Выводы
5. ВНЕДРЕНИЕ И ИСПОЛЬЗОВАНИЕ РЕЗУЛЬТАТОВ РАБОТЫ 0 ЗАКЛЮЧЕНИЕ
СПИСОК ИСПОЛЬЗОВАННЫХ ИСТОЧНИКОВ