Вы здесь

Восстановление данных послойного ВИМС-анализа сверхтонких структур

Автор: 

Макаров Владимир Викторович

Тип работы: 

кандидатская

Год: 

1999

Количество страниц: 

94

Артикул:

1000237963

179 грн

Добавить в корзину

• 
• 
• 

Рекомендуемые диссертации

• Моделирование и исследование полупроводниковых структур с отрицательным дифференциальным сопротивлением и приборов на их основе
• Исследование кинетики и механизмов взаимодействия газоразрядной фторсодержащей плазмы с поверхностью LiNbO3
• Влияние облучения на свойства КНИ структур и полевых элементов со встроенным каналом на их основе
• Планарные микрооптические градиентные структуры на основе стекол
• Физико-технологические основы формирования трехмерных микроструктур УБИС плазменными методами
• Свойства многослойных затворных структур МОП нанотранзисторов, на основе силицидов и диэлектриков с высоким ε, полученных методами магнетронного распыления и электронно-лучевого испарения
• Фотоиндуцированные и релаксационные процессы в пленках оксида титана
• Рентгеновская диагностика твердотельных микро- и наноструктур
• Исследование и разработка методов расширения рабочего диапазона и улучшения характеристик микромеханических датчиков угловой скорости
• Электронный транспорт в составных квантовых ямах InAlAs/InGaAs/InAlAs, содержащих наноразмерные вставки InAs