- Київ+380960830922
Ви є тут
Введіть ключові слова для пошуку дисертацій:
Комплексная методика анализа поверхности с нанометровым разрешением на основе электронной спектроскопии
Тип роботи:
Кандидатская
Рік:
2013
Артикул:
324458 179 грн
Рекомендовані дисертації
- Повышение мощности и ресурса высокоэффективных источников ультрафиолетового излучения с дуговым разрядом низкого давления
- Экспериментальные исследования разряда в парах ртути и инертных газов и разработка мощного источника УФ излучения
- Вращение плазмы и перенос примесей в Токамаке ФТ-1
- Исследование взаимодействия токовой оболочки плазмофокусного разряда с конденсированными мишениями оптическими методами
- Эффективность транспортировки и концентрации энергии на излучающую имплодирующую нагрузку на мегаамперной установке "С-300"
- Удержание анизотропных горячих ионов в установке ГДЛ
- Тепловые свойства неидеальных систем с изотропными парными потенциалами в приложении к пылевой компоненте комплексной плазмы
- Динамика и структура волн ионизации в наносекундном диапазоне при высоких перенапряжениях в различных конфигурациях разрядного промежутка
- Разработка нового метода столкновительной электронной спектроскопии для анализа вещества на основе микроплазменных источников
- Формирование интенсивных ионных потоков в генераторе нейтронов с лазерно-плазменным источником ионов