Ви є тут

Балансно-двухволновой метод контроля оптических толщин слоев : Исследование возможностей метода при изготовлении интерференционных покрытий

Автор: 

Эльгарт Зиновий Эльевич

Тип роботи: 

Кандидатская

Рік: 

1998

Артикул:

1000212256

179 грн

Додати в кошик

• 
• 
• 

Рекомендовані дисертації

• Когерентно-ограниченные интерферометрические методы и системы контроля формы диффузных поверхностей
• Оптимизация преобразования сигнала в лазерных дифракционных измерителях размеров микрообъектов
• Неоднородные оптические покрытия
• Влияние топологии матричного фотоприемника на эффективность использования ИК приборов
• Окулярная часть современных многофункциональных перископных систем
• Разработка и исследование дифракционных методов измерений на основе зеркальной апертуры
• Разработка и исследование спектрального метода и аппаратуры для оперативной идентификации пород древесины
• Принципы построения и исследование оптических и оптико-электронных автоколлимационных угломеров
• Автоматический анализ изображений и распознавание образов на основе принципа репрезентационной минимальной длины описаны
• Анализ и синтез методов и средств контроля оптических систем с дифракционно ограниченным качеством изображения