Ви є тут

Физические основы и принципы бесконтактного измерения параметров полупроводниковых материалов

Автор: 

Сидорин Виктор Викторович

Тип роботи: 

Докторская

Рік: 

1997

Артикул:

1000196132

179 грн

Додати в кошик

• 
• 
• 

Рекомендовані дисертації

• Термические характеристики и стабильность тонких пленок на основе a-Si
• Размерный эффект плавления тонких медных пленок и его использование для формирования межсоединений кремниевых СБИС
• Моделирование концентрационных профилей компонентов в низкоразмерных гетероструктурах InGaAs/(Al)GaAs, формируемых методом МОС-гидридной эпитаксии
• Исследование и оптимизация процесса реактивно-ионного травления углублений в кремнии для формирования мелкощелевой изоляции
• Разработка технологии пластин полупроводниковых соединений A^III B^V современной точности обработки
• Голографическая диагностика газофазных процессов микроэлектроники
• Закономерности формирования и свойства гетероструктур на основе неупорядоченных полупроводников
• Физико-технические принципы построения, разработка и применение высокоэнергетичных ионных имплантеров
• Разработка технологии формирования и исследование протонообменных световодных структур в конгруэнтных и легированных оксидом магния кристаллах ниобата лития
• Технология пленок Ленгмюра-Блоджетт жесткоцепных полиимидов для устройств микросистемной техники