Ви є тут

Физические основы и принципы бесконтактного измерения параметров полупроводниковых материалов

Автор: 

Сидорин Виктор Викторович

Тип роботи: 

Докторская

Рік: 

1997

Артикул:

1000196132

179 грн

Додати в кошик

• 
• 
• 

Рекомендовані дисертації

• Разработка технологии формирования и исследование протонообменных световодных структур в конгруэнтных и легированных оксидом магния кристаллах ниобата лития
• Разработка и применение методов моделирования в технологиях выращивания монокристаллов из расплава
• Ленгмюровское испарение фосфора из растворов-расплавов фосфидов индия и галлия
• Выращивание и исследование новых кристаллов сложных силикатов и германатов, легированных ионами Cr#24+#1, для твердотельных лазеров
• Получение и исследование эпитаксиальных структур полупроводник-фианит
• Гетероструктуры InSb1-x Bi x /InSb и GaSb1-x Bi x /GaSb с квантовыми ямами: технология получения и свойства
• Получение и исследование эпитаксиальных структур "полупроводник-фианит"
• Технология элементной базы защитных устройств для радиолокаторов сверхвысоких частот
• Технология получения тонкопленочных структур для оптоэлектроники на основе опытной установки ионно-лучевого осаждения
• Кристаллизация стекол в системах Bi2O3-SiO2 и Bi2O3-GeO2