СОДЕРЖАНИЕ
Введение.
1 Основы технологии производства кристаллов
1.1 Информационно патентный поиск.
1.2 Методы выращивания монокристаллов
1.2.1 Выращивание из паров
1.2.2 Выращивание из растворов
1.2.3 Выращивание из расплавов
1.3 Описание основных установок для изготовления монокристаллов.
1.3.1 Установка периодического действия 1ИСВ0,НФ
1.3.2 Установка для направленной кристаллизации проходного типа ПМП2.
1.3.3 Установка для высокоскоростной направленной кристаллизации УВИК8П.
1.4 Прецизионные регуляторы температуры
1.5 Выводы по главе
2 Методы измерения действующего значения полигармонических сигналов
2.1 Геометрическая интерпретация.
2.2 Метод трубчатых сечений МТС
2.3 Метод наклонных трубчатых сечений МНТС.
2.4 Метод кольцевых сечений МКС
2.5 Метод наклонных кольцевых сечений МНКС.
2.6 Вычисление действующего значения полигармонического напряжения.
2.7 Выводы по главе
3 Оценка точностных характеристик метода кольцевых сечений
3.1 Алгоритм исследования точности измерения действующего значения
3.2 Помехоустойчивость метода кольцевых сечений
3.2.1 Исследование сетевого напряжения при воздействии помехи
3.2.2 Вектор плотности вероятностей распределения сетевого напряжения.
3.2.3 Вероятности переходов.
3.3 Выводы по главе
4 Разработка имитационных моделей измерителя и макетирование.
4.1 Основные соотношения для метода кольцевых сечений
4.2 Имитационная модель измерителя действующего значения напряжения.
4.3 Анализ модели измерителя действующего значения напряжения при синусоидальной форме входного сигнала
4.3.1 Анализ изменения величины амплитуды напряжения
4.3.2 Анализ изменения частоты генератора тактовых импульсов
4.3.3 Влияние количества хорд на погрешность измерений
4.4 Анализ модели измерителя действующего значения при несинусоидальной форме входного сигнала
4.4.1 Анализ изменения величины амплитуды напряжения
4.4.2 Анализ изменения частоты генератора тактовых импульсов
4.4.3 Влияние количества хорд на погрешность измерений
4.5 Имитационная модель измерителя среднего значения мощности
4.5.1 Выбор термодатчика.
4.5.2 Выбор измерителя действующего значения напряжения
4.5.3 Анализ измерителя среднего значения мощности.
4.5.3.1 Анализ измерителя среднего значения мощности при температуре, не изменяющейся за период измерения
4.5.3.2 Анализ измерителя среднего значения мощности при температуре, линейноизменяющейся за период измерения.
4.6 Техническая реализация.
4.7 Выводы по главе Заключение
Список использованных источников
- Київ+380960830922