Оглавление
Введение.
1. Модификация физических моделей, описывающих токовые зависимости спектра фликкерных шумов в полупроводниковых диодах
1.1 ВАХ полупроводникового диода
1.2 Источники фликкериого шума в полупроводниковом диоде
1.2.1 Модель Ш шума на основе бистабильных дефектов.
1.2.2 Фликкерныс флуктуации параметров диода
1.2.3 Эффект насыщения
1.2.4 Эффект, обусловленный флуктуациями рекомбинационного сопротивления диода.
1.2.5 Эффект максимизации.
1.3 Выводы по первой главе
2. Низкочастотные шумы в светоизлучающих гстероструктурах на квантовых ямах и точках.
2.1. Структуры исследованных светодиодов и лазеров
2.2. Токи рекомбинации в светодиодах и лазерах на КЯКТ.
2.3. НЧ шумы утечки в светодиодах и .лазерах на КЯКТ.
2.3.1. Светодиоды на КТ и КЯ
2.3.2. Светодиоды на КТ.
2.3.3. Лазеры на КЯ.
2.4 Анализ спектра НЧ электрических шумов лазерных структур в области порога индуцированного излучения
2.4.1. Декомпозиция спектров
2.4.2. Зависимость спектральных компонент оттока
2.5 Исследование негауссовостн НЧ шума
2.5.1 Проявление негауссовостн НЧ шума в лазерах
2.5.2 Негауссовость 1Г шума в светодиодах
2.6. Флуктуации интенсивности оптического излучения лазеров на
2.6.1. Флуктуации интенсивности оптического излучения.
2.6.2. Спектры электрических шумов и флуктуаций интенсивности излучения.
2.6.3. Функция взаимной когерентности
2.7 Выводы по второй главе.
3. НЧ шум в наноразмерных полупроводниковых диодах с барьером
3.1. Структура диодов
3.2. Декомпозиция ВАХ диодов с барьером Шоттки.
3.2.1. Модель диода
3.2.2. Процедура аппроксимации экспериментальных данных и оценка точности аппроксимации.
3.2.3. Полные ВЛХ диодов
3.3. Анализ спектра НЧ шумов диодов с барьером Шоттки.
3.3.1. Шум типа М,
3.3.2. Токовые зависимости спектра 1Т шума.
3.3.3. Оценка спектра НЧ шума при малом токе
3.4. Выводы по третьей главе
Заключение.
Приложение 1. Основные характеристики приборов установки для
измерения низкочастотных шумов светоизлучающих приборов.
Приложение 2. Основные характеристики устройств, входящих в состав установки для измерения 1Г шума диодов с барьером Шоттки.
Приложение 3. Программный комплекс для исследования НЧ шума
Приложение 4. Анализ помех при измерениях низкочастотных
шумов .
Приложение 5. Сокращения и обозначения
Список литературы
- Київ+380960830922