Ви є тут

Структурная неустойчивость твердых растворов системы Pb/0.78 Sn/0.22 Te-In

Автор: 
Александров Олег Викторович
Тип роботи: 
ил РГБ ОД 61
Рік: 
2303
Артикул:
6834
179 грн
Додати в кошик

Вміст

СОДЕРЖАНИЕ
ВВЕДЕНИЕ. 5.
ГЛАВА I. ОСНОВНЫЕ ФИЗИЧЕСКИЕ СВОЙСТВА ТЕЛЛУРИДОВ СВИНЦА И ОЛОВА И ТВЕРДЫХ РАСТВОРОВ НА ИХ ОСНОВЕ ОБЗОР ЛИТЕРАТУРЫ
1.1. Кристаллохимические свойства. Ю
1.1.1. Классификация структурных типов соединений АВ.
1.1.2. Фазовые диаграммы РЬТе , 5пТе и
. РЬх5пхТе
IЛ.3. Кристаллохимические особенности образования твердых растворов замещения РЬх5пхТв
1.2. Электрофизические свойства.
1.2.1. Зонная структура.
1.2.2. Точечные дефекты.
1.2.3. Управление электрофизическими параметрами. 1.3. Влияние индия на электрофизические свойства
РЬТе , 5пТе и РЬхпхе
1.3.1. Индий в бинарных соединениях. .
1.3.2. Индий в твердых растворах РЬуЗпТв 1.4. Низкотемпературные особенности физических свойств
системы РЬТе БпТе и фазовые переходы в ней.
1.4.1. Структурная неустойчивость РЬТв и 5пТе .
1.4.2. ТХ диаграмма особенностей физических свойств 5пхТе зб
1.4.3. Сегнетоэлектрические явления в системе
РЬТе 57 Те
ГЛАВА П. МЕТОДИКА, АППАРАТУРА И ОБЪЕКТЫ ИССЛЕДОВАНИЙ.
Стр.
2.1. Гонбметрическая дифрактометрия
2.1.1. Основные принципы
2.1.2. Измерения межплоскостных расстояний и интенсивностей дифракционных линий. .
2.2. Энергодисперсионная дифрактометрия
2.2.1. Принцип рентгеновской энергодисперсионной дифрактометрии
2.2.2. Описание энергодисперсионного дифрактометра. 2.3. Способ рентгеновской энергодисперсионной дифрак
тоыетрии с угловым сканированием
2.3.1. Анализ ошибок измерения . . .
2.3.2. Метод устранения ошибок измерения 2.4. Аппаратура низкотемпературных исследований.
2.5. Объекты исследования.
ГЛАВА Ш. СТРУКШНЫЕ ФАЗОВЫЕ ПЕРЕХОДЫ В НЕЛЕГИРОВАННОМ
РЬг5Пц2гТе В ИНТЕРВАЛЕ ТЕШЕРАТУР 80 К
3.1. Рентгенография фазовых переходов.
3.2. Температурные зависимости структурных характерис
тик монокристаллов Ро,8 0,.
3.3. Симметрия и параметры решеток низкотемпературных
3.3.1. Расшифровка дифрактограмм методом гомологии.
3.3.2. Симметрия кристаллической решетки
в интервале 0 К.
3.3.3. Симметрия решетки при 8 К.
3.4. Обсуждение результатов и выводы. ЮЗ
Стр.
ГЛАВА 1У. НИЗКОТЕМПЕРАТУРНЫЕ ФАЗОВЫЕ ПЕРЕХОДЫ В СИСТЕМЕ
, 0,2
4.1. Фазовые переходы в монокристаллах РЬ0 2
4.1.1. Монокристаллы с I 0,7 ат.НО
4.1.2. Монокристаллы с 1п 0,8 ат.НО
4.1.3. Диаграмма температур фазовых переходов в 0 ЮА2 ат..
4.2. Симметрия и параметры решеток поликристаллов
РЬ0д 0iI
4.2.1. Поликристаллы с М1п 0,7 ат..
4.2.2. Поликристаллы с 0,8 ат..
4.3. Обсуждение результатов и выводы.
ГЛАВА У. КРИСТАЛЛОХИМИЧЕСКИЕ ОСОБЕННОСТИ РАСТВОРЕНИЙ ИНДИЙ
В 0,
5.1. Область растворимости индия в РЬр 70,2
5.2. Структурные характеристики РЬ0 ЗпоТе 1п
при 0 К.
5.3. Электронная Ожеспектроскопия монокристаллов
РЬ0 57 0 Те 7 .
5.4. Обсуждение результатов.
5.4.1. Механизм растворения индия в
5.4.2. Механизм влияния индия на низкотемпературный полиморфизм РЬ0 Т
5.4.3. Механизм стабилизации уровня Ферми в
РЬо, п0,.
ЗАКЛЮЧЕНИЕ.
ЛИТЕРАТУРА