Структурный анализ поверхности методом дифракции квазиупруго рассеянных электронов

СОДЕРЖАНИЕ
страница
ВВЕДЕНИЕ
Глава I ОБЗОР ЛИТЕРАТУРЫ
1.1 Особенности картин дифракции электронов в диапазоне
низких и средних энергий
1.2 Теорема обратимости и ориентационная зависимость
отражения электронов от монокристаллов
1.3 Теоретическое описание дифракционных эффектов в
области средних энергий электронов
1.4 Дифракция рентгеновских фото и ожеэлек фонов с
энергией порядка 1 кэВ
1.5 Выводы из обзора и постановка задачи исследования
Глава II ТЕХНИКА ЭКСПЕРИМЕНТА
2.1 Конструкция вторичноэлектронного спектрометра
2.2 Система автоматической регистрации пространственных
распределений отраженых электронов
2.3 Процедура подготовки образцов и настройка спектрометра
Глава III ДИФРАКЦИОННЫЕ КАРТИНЫ МОНОКРИСТАЛЛОВ
КУБИЧЕСКОЙ СИНГОНИИ
3.1 Результаты измерений для грани 0 кристаллов
3.2 Сопоставление дифракционных картин для разных граней
кристаллов
3.3 Динамика изменения картин с энергией электронов
3.4 Выводы
Глава IV МОДЕЛИРОВАНИЕ ДИФРАКЦИОННЫХ КАРТИН
4.1 Кластерная модель однократного рассеяния
4.2 Роль внутренних параметров модели
4.3 Результаты комптерного моделирования
4.4 Механизм формирования дифракционных картин
4.5 Выводы
Глава V СТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ УЛЬТРАТОНКИХ ПЛЕНОК
СЕРЕБРА, СФОРМИРОВАННЫХ НА РАЗЛИЧНЫХ ПОДЛОЖКАХ
5.1 Рост пленки серебра на поверхности Мо 0
5.2 Структура пленок серебра, сформированных на
поверхности i 7x7
5.3 Рост пленок на поверхности i 0 2x1
5.4 Выводы
ОСНОВНЫЕ РЕЗУЛЬТАТЫ И ВЫВОДЫ
ЗАКЛЮЧЕНИЕ
ЛИТЕРАТУРА