Содержание
Введение
Глава 1. Литературный обзор.
1.1 .Зондовая микроскопия общие сведения
1.1.1 .Принципы работы сканирующих зондовых микроскопов
1.1.2.Сканирующие элементы сканеры зондовых микроскопов
1.1.3.Защита зондовых микроскопов от внешних воздействий.
1.1.4.Стабилизация термодрейфа положения зонда над поверхностью.
1.1.5.Формирование и обработка СЗМ изображений.
1.1.6.Сканирующая туннельная микроскопия.
1.1,7.3онды для туннельных микроскопов.
1.1.8.Спектроскопические измерения в СТМ.
1.1.9.Система управления СТМ.
1.2.Исследование поверхностных комплексов методами сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии.
1.2.1. Изображение адсорбированных частиц в СТМ
1.2.2. Туннельная спектроскопия адсорбированных частиц.
1.2.3. Туннельная спектроскопия полупроводников
1.2.4. Элементарные процессы на поверхности адсорбция, диссоциация и поверхностная миграция атомных частиц
1.2.5. Упорядоченные слои адсорбированных частиц.
1.2.6. Исследование окислительных реакций с помощью СТМ
Глава 2 Экспериментальная установка
2.1. Сверхвысоковакуумная камера.
2.2. Сканирующий туннельный микроскоп
2.3. Вспомогательное экспериментальное оборудование
2.4. Приготовление острий
2.5. Образцы7
2.6. Адсорбция и нанесение наночастиц на поверхности образцов.
Глава 3. Диагностика структуры и свойств нанокластеров оксидов алюминия титана и вольфрама
3.1 Топографическая и спектроскопическая диагностика оксидных наночастиц
3.2 Детектирование и определение свойств дефектов оксидных нанокластеров.
Глава 4. Управляемый рост и модификация единичных оксидных нанокластеров.
4.1. Управляемый рост и модификация единичных оксидных нанокластеров на острие СТМ.
4.2. Формирование наноструктур на поверхности оксида титана.
Заключение.
Список цитируемой литературы
- Київ+380960830922