Прецизионные измерения контура спектральной линии методами диодной лазерной спектроскопии

ОГЛАВЛЕНИЕ
Введение .
Глава 1. Диодные лазеры для спектроскопии высокого разрешении
измерения контура спектральной линии с помощью диодных
лазеров обзор литературы.
Диодные лазеры.
Шумовые характеристики ДЛ.
Шумы интенсивности
Частотные шумы и ширина линии генерации.
Внешняя оптическая обратная связь в ДЛ
Прецизионные измерения контура спектральной линии с помощью ДЛ . .
Глава 2. Экспериментальная установка Г
Диодный лазер.
Система термостабилизации.
Реперный канал
Канал частотной калибровки
Аналитический канал.
Оптические кюветы.
Система приготовления смеси газов, напуска газов в кюветы
и контроля давления.
Система юстировки.
Система регистрации сигналов
Характеристики диодного лазерного спектрометра
Чувствительность ДЛ С.
Спектральное разрешение.
Глава 3. Спектроскопия ацетилена в ближней ИКобласти А,1, мкм
Классификация колебательновращательных состояний С22.
Анализ спектров. Эксперимент
Интерпретация зарегистрированных колебательновращательных
линий С2Н2
Выводы.
Глава 4. Методика проведения прецизионных измерений контура
спектральной линии.
Калибровка и линеаризация частотной шкалы
Уровень полного пропускания базовая линия
Точность определения уровня полного поглощения оптического нуля . Подгонка регистрируемых контуров линий известными
модельными функциями.
Выводы.
Глава 5. Аппаратная функция ДЛС
Теория. Постановка задачи. Волновое уравнение
Уравнения среды
Уравнение свертки.
Шумы излучения ДЛ
Спонтанное излучение.
Флуктуации интенсивности.
Флуктуации частоты
Спектр поля излучения ДЛ обусловленный шумами частоты
Эксперимент. Определение параметра
Определение параметров О и Г АФ ДЛ.
Выводы
Заключение.
Литература