- Київ+380960830922
Ви є тут
Введіть ключові слова для пошуку дисертацій:
Определение шероховатости подложек и тонких пленок по рассеянию рентгеновских лучей в условиях внешнего отражения
Тип роботи:
кандидатская
Рік:
2003
Кількість сторінок:
126
Артикул:
140204 179 грн
Рекомендовані дисертації
- Тепловые свойства сплавов (PdxPt1-x)3Fe и Pt3MnxFe1-x при концентрационном фазовом переходе от антиферромагнетика к ферромагнетику
- Влияние атомной структуры на механизмы самодиффузии по границам зерен наклона в алюминии
- Влияние колебаний атомов на формирование волнового поля в кристаллах в условиях динамической дифракции
- Закономерности влияния электронного строения на свойства кубических соединений элементов группы железа с B, C, N, O
- Особенности поверхностного упрочнения титана при электровзрывном легировании и электронно-пучковой обработке
- Комплексное исследование структуры и физических свойств тонких пленок рения
- Исследование влияния деформации на структуру кристаллов сульфида и селенида цинка методом ЭПР
- Теоретическая модель развития газовой пористости в материалах ядерных реакторов
- Исследование парамагнитных дефектов в рентгенооблученных кристаллах KTiOPO4 и RbTiOPO4
- Градиентные структурно-фазовые состояния в сталях : способы формирования, масштабы реализации, закономерности