- Київ+380960830922
Ви є тут
Введіть ключові слова для пошуку дисертацій:
Определение шероховатости подложек и тонких пленок по рассеянию рентгеновских лучей в условиях внешнего отражения
Тип роботи:
кандидатская
Рік:
2003
Кількість сторінок:
126
Артикул:
140204 179 грн
Рекомендовані дисертації
- Дислокационные процессы в щелочно-галоидных кристаллах в условии комплексного нагружения
- Автоэлектронная эмиссия из наноструктурированных материалов
- Моделирование процессов взаимодействия краевых дислокационных петель со свободной поверхностью
- Поврежденность кристаллов при взрыве горных пород
- Электрические и оптические свойства субмикронных пленок фуллеренов C60
- Исследование особенностей и расчет теплового сопротивления широкозонных полупроводников и реальных кристаллов с дефектами, кластерами и фазовыми переходами
- Исследования пар ионов Cr3+-Cr2+ в кристалле KZnF3 методами оптической спектроскопии
- Рентгеновская фотоэлектронная и люминесцентно-оптическая вакуумная ультрафиолетовая спектроскопия кристаллов KPb2Cl5 и RbPb2Cl5
- Эволюция зарядовой, спиновой и упругой подсистем в двойных искаженных перовскитах Ca(CuxMn3-x)Mn4O12
- Механизм катастрофического окисления металлов и сплавов в серосодержащих газовых средах