- Київ+380960830922
Ви є тут
Введіть ключові слова для пошуку дисертацій:
Оценка параметров изображений неоднородной поверхности объектов в оптико-электронной информационно-измерительной системе
Тип роботи:
кандидатская
Рік:
2010
Кількість сторінок:
165
Артикул:
243401 179 грн
Рекомендовані дисертації
- Исследование и разработка системы программного обеспечения процесса проектирования индуктивных измерительных приборов
- Информационно-измерительная система стабилизации и наведения линии визирования с наклонным кардановым подвесом
- Методы и средства изучения дестабилизирующих и диссипативных факторов в измерительных устройствах на основе высокочувствительных механических осцилляторов
- Методы и средства дистанционной онкологической диагностики с применением технологии формирования панорамных изображений
- Разработка и исследование системы диагностики рельсового пути на микромеханических чувствительных элементах
- Разработка методов имитационного моделирования для определения погрешностей результатов измерений процессорных измерительных средств
- Цифровое управление со случайным периодом дискретизации оптической пеленгационной установкой
- Информационно-измерительная система для измерения параметров двухполюсников
- Информационно-измерительная система трассировки движения транспортного средства
- Измерительно-вычислительная система контроля качества магнитных изделий с помощью электронно-оптических муаровых эффектов