Ви є тут

Субмиллиметровая спектроскопия носителей заряда в напряженных гетероструктурах Ge/GeSi

Автор: 

Молдавская Мария Давидовна

Тип роботи: 

кандидатская

Рік: 

2000

Кількість сторінок: 

165

Артикул:

1000274012

179 грн

Додати в кошик

• 
• 
• 

Рекомендовані дисертації

• Разработка технологических основ субмикронного профилирования поверхности подложек методом фокусированных ионных пучков для создания микро- и наноструктур
• Совершенствование моделей и оптимизация конструкций гибридных узкополосных транзисторных усилителей коротковолновой части сантиметрового диапазона длин волн
• Разработка технологии КМОП ИС на структурах КНД
• Брэгговская дифракция рентгеновского излучения на кристаллах, промодулированных поверхностными акустическими волнами
• Прецизионная литография в твердотельной электронике и микроэлектронике
• Разработка и применение физико-топологической модели мощного полевого транзистора с барьером Шоттки и моделей микрополосковых линий для проектирования монолитных и квазимонолитных СВЧ схем на арсениде галлия
• Исследование процессов травления диоксида кремния, кремния, полимерных пленок в химически активной плотной плазме ВЧ индукционного разряда низкого давления
• Процессы самоорганизации наноструктур в углеродистой среде, активируемой потоком электронов, в сильных электрических полях
• Устойчивость атомарной структуры оксида кремния после радиационно-термической обработки МОП приборов
• Разработка теоретических основ и методики проектирования электростатических МЭМП механической энергии в электрическую