Ви є тут

Субмиллиметровая спектроскопия носителей заряда в напряженных гетероструктурах Ge/GeSi

Автор: 

Молдавская Мария Давидовна

Тип роботи: 

кандидатская

Рік: 

2000

Кількість сторінок: 

165

Артикул:

1000274012

179 грн

Додати в кошик

• 
• 
• 

Рекомендовані дисертації

• Рентгенодифрактометрическое исследование деформаций гетероструктур кубической и гексагональной систем
• Моделирование и расчет функциональных характеристик элементов энергонезависимой памяти с фазовыми переходами
• Влияние конструктивно-технологических факторов на электрические параметры мощных ВЧ и СВЧ МОП транзисторов
• Исследование и разработка методов расширения рабочего диапазона и улучшения характеристик микромеханических датчиков угловой скорости
• Оптимизация технологии полупроводниковых пленочных преобразователей и повышение эффективности их производства
• Твердотельные ядерные магнито-резонансные (ЯМР) ансамблевые квантовые компьютеры : Исследования физических основ и проблем реализации
• Формирование мелкозалегающих легированных слоев в кремнии диффузией из поверхностного источника в условиях быстрой термической обработки
• Разработка и исследование технологических основ формирования легированных анодных пленок диоксида кремния
• Идентификация фаз в системах Ba-Bi-O и K-Ba-Bi-O методами просвечивающей электронной микроскопии
• Влияние облучения на свойства КНИ структур и полевых элементов со встроенным каналом на их основе