Ви є тут

Минимум энтропии измерений как вычислимая мера запутанности многочастичных квантовых состояний

Автор: 

Чернявский Андрей Юрьевич

Тип роботи: 

кандидатская

Рік: 

2010

Кількість сторінок: 

130

Артикул:

233036

179 грн

Додати в кошик

Рекомендовані дисертації

• Создание фотодиодов на основе InSb, PbTe и CdxHg1-xTe и анализ их функционирования в составе оптико-электронных систем
• Разработка технологии КМОП ИС на структурах КНД
• Разработка теоретических основ и методики проектирования электростатических МЭМП механической энергии в электрическую
• Разработка интегральной микросхемы частотного компаратора для блока управления экономайзером отечественных легковых автомобилей
• Функциональная электроника : Формирование направления, создание производительных процессоров и запоминающих устройств высокой емкости
• Электрофизическое диагностирование МДП-структур с неоднородно распределенными параметрами
• Исследование и разработка сканирующей зондовой микроскопии с проводящими кантилеверами для создания и диагностики наноразмерных структур
• Исследование хемосорбционного взаимодействия при формировании приповерхностных легированных слоев в полупроводниках и пленок на их поверхности в технологических процессах диффузии и осаждения
• Зависимости электрических параметров нано-МОП транзисторов со структурой КНИ от конструктивных и технологических факторов
• Разработка и исследование технологии формирования наноструктур на основе нитридов элементов III группы