Ви є тут

Исследование структурных и электрофизических характеристик пленок на основе Z-Si:H, полученных в плазме НЧ разряда

Автор: 

Уточкин Иван Геннадьевич

Тип роботи: 

H, полученных в плазме НЧ разряда

Рік: 

2005

Кількість сторінок: 

172

Артикул:

7412

179 грн

Додати в кошик

Рекомендовані дисертації

• Квантовые явления в 2D наноструктурах пониженной симметрии : 2D-дырки на поверхности монокристаллического теллура
• Эффект позиционного беспорядка и примесное поглощение света в полупроводниковых структурах с квантовыми ямами и точками
• Исследование экситонных спектров поглощения в полупроводниковых кристаллах с учетом ангармонизма фононов
• Оптика фазовых превращений и электретных состояний в оксидах переходных металлов
• Электронный энергетический спектр неоднородных, пространственно ограниченных и слоистых полупроводниковых структур
• Определение неоднородностей проводимости и фотопроводимости полупроводниковых пластин по взаимодействию с миллиметровыми и субмиллиметровыми волнами
• Особенности излучательной и безызлучательной рекомбинации в квантоворазмерных структурах InGaN/GaN, GaAsN/GaN, связанные с характером организации наноматериала
• Исследование физических процессов в Р-П-Р-П структурах при комбинированных импульсных воздействиях
• Влияние водорода на фотоэлектронные свойства гетероструктур с квантовыми ямами и точками GaAs/In x Ga1-x As
• Исследование электронных локальных центров в цинкосульфидных кристаллофосфорах электрофотографическим методом