- Київ+380960830922
Ви є тут
Введіть ключові слова для пошуку дисертацій:
Исследование структурных и электрофизических характеристик пленок на основе Z-Si:H, полученных в плазме НЧ разряда
Тип роботи:
H, полученных в плазме НЧ разряда
Рік:
2005
Кількість сторінок:
172
Артикул:
7412 179 грн
Рекомендовані дисертації
- Полупроводниковые самоорганизованные наноматериалы - нелинейные системы с фрактальной размерностью
- Стимулированное дальнее ИК-излучение в одноосно деформированном p-Ge и напряженных гетероструктурах SiGe/Si
- Влияние микро- и наноструктурирования на оптические свойства кремниевых слоев
- Поля дефектов и форма резонансных линий
- Взаимодействие экситонов с оптическими фононами и шероховатостями границ раздела в квантовых ямах и нанопроволоках ZnCdSe/ZnSe
- Вклады поверхностных и объёмных состояний в фотоэмиссии электронов из p+-GaAs(Cs,O) и p-GaN(Cs,O)
- Влияние электрического поля на фотоэлектрические спектры квантово-размерных гетеронаноструктур GaAs/In(Ga)As, выращенных газофазной МОС-гидридной эпитаксией
- Исследование магнитных явлений в легированных полупроводниках
- Исследование проводимости полупроводниковых структур методом импедансной спектроскопии
- Комплексное исследование полупроводниковых соединений Cu2-xS с использованием метода ЯКР 63,65Cu