ОГЛАВЛЕНИЕ
Введение
1. Исследование и формализация задачи рационального
анализа работоспособности электронных цепей.
1.1. Исходные положения и определения.
1.2. Формализация и уточнение задачи анализа работоспособности
1.3. Вопросы моделирования электронных цепей функциональных узлов РЭА.
1.4. Методы рационализации анализа работоспособности электронных цепей ФУ РЭА.
1.4.1. Применение аппроксимационных моделей . .
1.4.2. Деформация исходных законов распределения внутренних параметров.
1.4.3. Совместное использование текущей
и априорной информации
1.5. Выводы
2. Применение метода коррелированных процессов для рационализации анализа вероятностных характеристик электронных цепей
2.1. Предварительные замечания
2.2. Реализация метода коррелированных процессов для использования априорной информации, полученной при аналитическом исследовании
упрощенной схемы
2.2.1. Оценка исследуемых вероятностных
характеристик.
2.2.2. Эффективность метода точность и трудоемкость
2.2.3. Построение алгоритма реализации МКПА
2.2.3.1. Уточнения и дополнительные
расчетные соотношения .
2.2.3.2. Алгоритм А2.1
2.2.4. Экспериментальная проверка алгоритма А2.1. .
2.3. Реализация метода коррелированных процессов для использования априорной информации, полученной при статистическом исследовании исходной схемы
в соседней отображающей точке
2.3.1. Оценка исследуемых вероятностных характеристик
2.3.2. Эффективность метода точность и трудоемкость
2.3.3. Построение алгоритма реализации МКПС
2.3.3.1. Уточнения и дополнительные расчетные соотношения .
2.3.3.2. Алгоритм А2.2
2.3.4. Экспериментальная проверка алгоритма
2.4. Комбинированный алгоритм анализа вероятностных характеристик электронных цепей по методу коррелированных процессов .
2.4.1. Альтернативный подход к априорной информации. Критерии использования . Н
2.4.2. Алгоритм А2.3Н
2.5. Выводы
3. Построение аппроксимационной модели электронных
цепей на основе методов теории чувствительности . . .
3.1. Предварительные замечания .
3.2. Топологически эквивалентные схемы и анализ чувствительности общие вопросы
3.2.1. Возмущенная схема и е свойства У
3.2.2. Взаимоприсоединенная схема и е
свойства.
3.2.3. Основные расчетные соотношения анализа чувствительности
3.2.4. Использование Уразложения при
анализе топологически эквивалентных схем
3.3. Применение свойств топологически эквивалентных схем при построении алгоритмов анализа чувствительности
3.3.1. Определения абсолютных коэффициентов чувствительности .
3.3.2. Анализ чувствительности на основе свойств взаимоприсоединенной схемы
и теоремы Телегена метод присоединенных схем.2
3.3.2.1. Анализ чувствительности электронных цепей в частотной области 3
3.3.2.2. Анализ чувствительности нелинейных резистивных цепей в статическом режиме.
3.3.2.3. Эффективность метода присоединенных схемМ
3.3.3. Анализ чувствительности на основе свойств взаиыоприсоединенной схемы и теоремы о компенсации т
3.4. Алгебраизированные методы анализа чувствительности электронных цепей во временной области . .
3.4.1. Переход к алгебраизированной модели электронной цепи.
3.4.1.1. Предварительные замечания. . . . МЦ
3.4.1.2. Алгебраизация компонентных уравнений реактивных элементов Мб
3.4.2. Алгебраизированный метод присоединенных
3.4.2.1. Основные расчетные соотношения. . М
3.4.2.2. Алгоритм А.3.1.М
3.4.2.3. Эффективность алгоритма .3.I
3.4.3. Алгебраизированный метод возмущенных
3.4.3.1. Предварительные замечания Мб
3.4.3.2. Алгоритм АЗ.2 . Мб
3.4.3.3. Эффективность алгоритма А.З.2
3.5. Выводы М
4. Организация и проведение статистического эксперимента
при анализе работоспособности электронных цепей. . . .
4.1. Предварительные замечания .
4.2. Определение законов распределения параметров
ЭРЭ при неполных исходных данных .
4.3. Моделирование многомерного случайного вектора с зависимыми координатами .
4.3.1. Общий классический подход к решению
задачи т
4.3.2. Особенности моделирования случайных значений параметров электрорадиоэлементов
4.3.3. Применение регрессионного метода для моделирования зависимых параметров электрорадиоэлементов .
4.3.4. Графы корреляционных связей параметров полупроводниковых приборов.НО
4.3.5. Графы корреляционных связей параметров пассивных пленочных элементов .
4.3.6. Вывод регрессионных соотношений .
4.3.7. Алгоритм формирования многомерного случайного вектора внутренних параметров электронных цепей А.4.1 .
4.3.8. Экспериментальная проверка
алгоритма А.4.1 .
4.4. Выводы .
5. Заключение.
Литература
- Київ+380960830922