- Киев+380960830922
Вы здесь
Введите ключевые слова для поиска диссертаций:
Количественный рентгеноспектральный микроанализ оксидов и халькогенидов элементов II и IV групп
Тип работы:
Кандидатская
Год:
1999
Артикул:
1000218055 179 грн
Рекомендуемые диссертации
- Разработка, исследование свойств и оптимизация характеристик мощных InGaAsP/InP лазеров
- Электрофизические свойства твердых растворов на основе PbTe:Tl и SnTe:In при изовалентном замещении атомов в подрешетке халькогена
- Изотопические эффекты в спиновом резонансе электронов с различной степенью локализации в кремнии
- Дефектная структура распадающихся полупроводниковых твердых растворов
- Экситоны в низкоразмерных анизотропных структурах и магнитном поле
- Неравновесные электронные процессы в транзисторных структурах с распределенным p +-n-переходом
- Полупроводниковые квантово-размерные гетероструктуры на основе широкозонных соединений A2 B6 : Основы технологии получения методом молекулярно-пучковой эпитаксии и исследование свойств
- Электрические и фотоэлектрические свойства неидеальных гетеропереходов на основе кремния
- Поляризационная спектроскопия полупроводниковых микрорезонаторов Фабри-Перо на основе гидрогенизированного аморфного кремния
- Исследование линейных и нелинейных оптических свойств скандобората церия