- Київ+380960830922
Ви є тут
Введіть ключові слова для пошуку дисертацій:
Количественный рентгеноспектральный микроанализ оксидов и халькогенидов элементов II и IV групп
Тип роботи:
Кандидатская
Рік:
1999
Артикул:
1000218055 179 грн
Рекомендовані дисертації
- Электрозвуковые поверхностные волны в кристаллах с однородной нестационарностью свойств и равномерным движением границ
- Исследование проводимости и магнитопроводимости легированного германия в области перехода металл-диэлектрик
- Асимметричные гетероструктуры раздельного ограничения и мощные лазеры на их основе (?=1.6-1.85 мкм
- Получение и исследование гетероструктур и приборов на основе твердых растворов InGaAsP
- Емкостные и транспортные свойства квазидвумерных электронных слоев в субмикронных полевых транзисторах современной микроэлектроники
- Молекулярно-пучковая эпитаксия гибридных гетероструктур A^2 B^6/InAs для лазеров среднего ИК-диапазона
- Межзеренный фотовольтаический эффект в тонкопленочных сегнетоэлектрических структурах M/Pb(Zr,Ti)O3/M
- Разработка физико-химических основ жидкофазной эпитаксии полупроводниковых нитридов
- Структура и электрофизические свойства гетеропереходов n-SiC/p-(SiC)1-x (AlN) x
- Закономерности развития винтовой неустойчивости в кремниевых осциллисторах