Ви є тут

Количественный рентгеноспектральный микроанализ оксидов и халькогенидов элементов II и IV групп

Автор: 

Румянцева Анна Игоревна

Тип роботи: 

Кандидатская

Рік: 

1999

Артикул:

1000218055

179 грн

Додати в кошик

• 
• 
• 

Рекомендовані дисертації

• Новые аллотропные формы кремния
• Высокотемпературные приборы на основе фосфида галлия: эпитаксиальная технология, концепция легирования, электрические свойства
• Фотоэлектрические преобразователи солнечной и тепловой энергии на основе антимонида галлия
• Физические свойства сложных кристаллов, обусловленные длиннопериодной структурой
• Фононный ветер и перенос экситонов в полупроводнике Cu2 О
• Эффекты зарядовой компенсации в модифицированных слоях SiO2 на кремнии
• Изучение состояния фоновых примесей кислорода и углерода в арсениде галлия
• Контактные явления в тонкопленочных структурах на основе аморфных As2S3 и Sb2S3
• Теория фотоэлектрических явлений, обусловленных отсутствием центральной симметрии среды
• Поглощение акустических волн в диэлектрических кристаллах с примесями