Ви є тут

Количественный рентгеноспектральный микроанализ оксидов и халькогенидов элементов II и IV групп

Автор: 

Румянцева Анна Игоревна

Тип роботи: 

Кандидатская

Рік: 

1999

Артикул:

1000218055

179 грн

Додати в кошик

• 
• 
• 

Рекомендовані дисертації

• Электромагнитные эффекты в радиодиапазоне, связанные с динамикой радиационных дефектов в диэлектриках
• Морфология гетерограниц и транспорт двумерных электронов в GaAs квантовых ямах с AlAs/GaAs сверхрешёточными барьерами
• Динамическая модель процессов формирования трехмерных кластеров в кремнии
• Электрофизические свойства твердых растворов (SiC)1-x (AlN) x
• Оптические свойства соединений А2В6 с изоэлектронной примесью кислорода с позиций теории непересекающихся зон : на примере системы ZnS-ZnSe
• Исследование структурных и электрофизических характеристик пленок на основе Z-Si:H, полученных в плазме НЧ разряда
• Закономерности оптических и колебательных спектров твердых растворов Ti1-xCuxInS2(0?X?0,015)
• Транспорт носителей заряда в проводящих полимерах вблизи перехода металл-диэлектрик
• Исследование свойств светоизлучающих эпитаксиальных GaAs структур, содержащих ферромагнитные слои
• Электрофизические свойства нитрида индия и твердых растворов на его основе