Вы здесь

Обработка информации в лазерных технологических процессах при их диагностике в реальном времени с помощью оптического усилителя яркости

Автор: 
Данилов Сергей Юрьевич
Тип работы: 
кандидатская
Год: 
2000
Количество страниц: 
186
Артикул:
59569
129 грн
(417 руб)
Добавить в корзину

Содержимое

СОДЕРЖАНИЕ
Введение
Глава 1. Информационные основы лазерных технологий. Обзор литературы.
1.1. Современное состояние лазерных технологий. Основные задачи
1.2. Методы и пути решения задачи сбора информации и управления лазерными технологическими процессами.
1.3. Лазерный монитор на основе оптического усилителя яркости
Выводы по главе 1
Глава 2. Информационные составляющие изображения области лазерного воздействия на вещество и анализ информационных каналов
2.1. Пространственное распределение яркости изображения
2.2. Временное развитие картины неустойчивостей
2.3. Анализ информационного канала лазерного монитора при регистрации изображения
2.4. Компьютерная обработка изображения
Выводы по главе 2.
Глава 3. Система обработки информации и управления лазерным
технологическим процессом с использованием лазерного монитора
3.1. Автоматизированный сбор информации при воздействии лазерного излучения на поверхность материала.
3.1.1. Измерение и контроль параметров лазерного усилителя в реальном масштабе времени
3.1.2. Измерение температурной зависимости поверхности
нагретого тела по интенсивности отраженного излучения
3.1.3. Измерение частотных характеристик процессов, индуцированных лазерным излучением в веществе
3.2. Управление процессом лазерной обработки поверхности материала.
3.2.1. Система автоматизации процесса лазерной обработки
3.2.2. Алгоритм работы системы автоматизации
3.2.3. Контроль пространственного положения объекта.
3.3. Оптические схемы визуального контроля.
Выводы по главе 3
Глава 4. Диагностика в реальном времени динамических процессов при лазерной обработке поверхности материала. Экспериментальные результаты
4.1. Характеристики лазерного монитора при визуализации обрабатываемой поверхности.
4.2. Оптические схемы визуального контроля
4.3. Измерение температурной зависимости поверхности обрабатываемого объекта по интенсивности отраженного излучения
4.4. Измерение частотных характеристик процессов, индуцированных
лазерным излучением на поверхности вещества
Выводы по главе 41
Заключение.
Литература