Определение параметров микроэлектронных ВЧ и СВЧ компонентов методом частотного окна

Содержание
Введение.
Глава 1 Приборы и методы контроля измерения параметров микроэлектронных ВЧ и СВЧ компонентов.
Введение.
1.1 Методы цифровой обработки данных.
1.2 Методы измерения волновых параметров рассеяния микроэлектронных компонентов.
1.3 Методы измерения волновых параметров рассеяния нелинейных цепей в режиме большого сигнала
1.4 Методы калибровки контактных устройств.
Выводы и постановка задачи исследований
Глава 2 Анализ параметров микроэлектронных ВЧ и СВЧ компонентов, работающих в линейном режиме,
методом частотного окна
Введение.
2.1 Постановка задачи
2.2 Метод частотного окна
2.3 Метод рефлектометра с внутренней задержкой сигнала.
2.4 Разработка модели рефлектометра с внутренней задержкой сигнала с помощью пакета программ iv i.
2.5 Измерения и калибровка рефлектометра с внутренней
задержкой сигнала
2.6 Оценка достоверности результатов калибровки и измерения
рефлектометра с внутренней задержкой сигнала.
Выводы.
Глава 3 Анализ параметров нелинейных ВЧ и СВЧ цепей в режиме
большого сигнала.
Введение.
3.1 Постановка задачи
3.2 Метод корректного восстановления параметров нелинейных цепей в режиме большого сигнала
3.3 Метод кусочнолинейной регрессии в задаче восстановления параметров нелинейных цепей в режиме большого сигнала
3.4 Моделирование процесса восстановления параметров
нелинейной цепи в режиме большого сигнала
Выводы.
Глава 4 Измерение параметров ВЧ и СВЧ компонентов в
полосковых линиях передачи.
Введение
4.1 Постановка задачи
4.2 Калибровка контактного устройства по набору
не аттестованных полосовых мер.
4.3 Метод фильтрации пространственных гармоник.
4.4 Метод идентификации параметров схемных моделей.
4.5 Анализ точности измерения параметров
микроэлектронных компонентов.
Выводы.
Заключение.
Литература