Оценка несовершенства структуры кристаллов по характеристикам излучения быстрых электронов

Оглавление
Введение
Глава 1. Соотношение вкладов параметрического рентгеновского излучения и дифракции реальных фотонов в совершенных кристаллах.
1.1. ПРИ в совершенных кристаллах.
1.2. Дифракция реальных фотонов в совершенных кристаллах .
1.3. Соотношение вкладов ПРИ и дифракции реальных фотонов
в совершенных кристаллах.
1.4. Выводы
Глава 2. Дифракционное подавление ТИ с фиксированной
энергией в кристаллах класса аа.
2.1. Схема эксперимента и результаты измерений
2.2. Сопоставление результатов измерений и расчтов.
2.3. Характеризация кристалла и оценка размером микроблоков
2.4. Влияние вклада динамических процессов на проявление дифракционного подавления выхода тормозного излучения . .
2.5. Влияние микроструктуры кристалла на проявление дифракционного подавления выхода тормозного излучения
2.6. Выводы.
Глава 3. Оценка микроструктуры кристаллов по характеристикам когерентного излучения быстрых электронов.
3.1. Определение размеров блоков в мозаичных кристаллах класса аа
3.2. Определения угла разориентацин микроблоков и неоднородности состава кристаллической мишени.
3.3. Выводы.
Заключение
Список литературы