Моделирование процессов экзоэлектронной эмиссии при нанозондировании металлических поверхностей

Содержание
ВВЕДЕНИЕ
ГЛАВА I Состояние вопроса.
1.1. Экзоэлектронная эмиссия
1.1.1. Термостимулированная экзоэлектронная эмиссия.
1.1.2. Фотостимулированная экзоэлектронная эмиссия.
1.2. Механоактивационная экзоэмиссия.
1.3. Моделирование процессов.
1.3.1. Классические модели.
1.3.2. Феноменологическое моделирование
Выводы.
ГЛАВА II Методы исследования механоактивационной эмиссии.
2.1. Классические подходы
2.2. Учет макроскопических параметров
2.3. Экспериментальные методы исследования механоактивационной эмиссии
2.4. Геометрические параметры зонда
Выводы.
ГЛАВА III Динамика взаимодействия зонда с поверхностью.
3.1. Моделирование динамики датчика локального взаимодействия
3.1.1. Действие консервативных сил.
3.1.2. Исследование закономерности Р сила сочастота при консервативном нагружении
3.1.2. Действие неконсервативных сил.
3.2. Координаты Фаулера Нордгейма
3.3. Имитационное стохастическое моделирование процессов.
3.3.1. Стохастическое моделирование закономерности Фаулера
Норд гейма.
Выводы.
ГЛАВА IV. Классификация топологии поверхностей на основе полиномов
4.1. Топология поверхности.
4.2. Примеры перечислительной классификации сигналов в системах мониторинга качества поверхностей
4.2. Трибосопротивление при наносканировании.
Выводы.
ЗАКЛЮЧЕНИЕ.
СПИСОК ЛИТЕРАТУРЫ