Методы и аппаратно-программные средства функционального тестирования СБИС микроконтроллеров при проведении радиационных испытаний на дозовые воздействия

Введение
Глава 1. Современные микроконтроллеры, методы и средства их радиационных испытаний.
1.1 Номенклатура и особенности архитектуры современных микроконтроллеров .
1.2. Влияние накопленной дозы на функционирование МК.
1.3. Методы и средства, используемые при радиационных испытаниях микроконтроллеров и микропроцессоров.
1.3.1. Методики функционального тестирования при проведении радиационных испытаний.
1.3.2. Аппаратные средства для проведения радиационных испытаний
1.4. Выводы и постановка задачи
Глава 2. Анализ структуры микроконтроллеров и разработка тестируемых функциональных моделей
2.1. Анализ функциональной структуры микроконтроллеров с процессорным ядром .
2.2. Анализ функциональной структуры микроконтроллеров с процессорным ядром V
2.3. Анализ функциональной структуры микроконтроллеров с процессорным ядром
2.4. Тестируемая функциональная модель типового микроконтроллера.
2.5. Выводы по главе 2.
Глава 3. Разработка тестовых программ для функционального тестирования микроконтроллеров при проведении радиационных испытаний.
3.1. Методы реализации функционального тестирования микроконтроллеров с помощью набора тестовых программ.
3.1.1. Применение таблицы покрытия при формировании комплекта тестовых программ
3.1.2. Формирование тестовых циклических последовательностей для контроля результатов выполнения тестовых программ
3.1.3. Выявление отказавших функциональных блоков методом наложения виртуачьных функциональных сегментов
3.2. Общая методика разработки тестовых программ для функционального тестирования микроконтроллеров.
3.3. Разработка тестовых программ для испытаний микроконтроллера .
3.4. Разработка тестовых программ для испытаний микроконтроллеров семейства
3.5. Разработка тестовых программ для испытаний микроконтроллеров семейства .
3.6. Выводы по главе 3
Глава 4. Функциональное тестирование микроконтроллеров при проведении радиационных испытаний.
4.1. Аппаратные средства для тестирования микроконтроллеров в процессе радиационных испытаний.
4.2. Комплекс программного обеспечения для тестирования микроконтроллеров в процессе радиационных испытаний
4.3. Результаты функционального тестирования микроконтроллера .
4.4.Результаты функционального тестирования микроконтроллера Аита8Ь8Л1. .
4.5. Результаты функционального тестирования микроконтроллера 1.РСИШ. .
4.6. Результаты исследования функционирования микроконтроллеров АгМеа8 при низкоинтенсивном облучении.
4.7. Выводы по главе 4.
Заключение.
Список литературы