- Київ+380960830922
Ви є тут
Введіть ключові слова для пошуку дисертацій:
Количественная катодолюминесцентная микроскопия прямозонных материалов полупроводниковой оптоэлектроники
Тип роботи:
Дис. д-ра физ.-мат. наук
Рік:
2003
Артикул:
6730 179 грн
Рекомендовані дисертації
- Рентгеноспектральное исследование косвенного обменного взаимодействия в парамагнитных соединениях и минералах
- Исследование акустоэлектрической инжекции и корреляции в пьезоэлектрических пластинах и слоистых средах
- Исследование процессов радиационного дефектообразования и радиационного легирования в слоях n- и p-типов карбида кремния, выращенных методом сублимационной эпитаксии
- Упругие и неупругие свойства тонких пленок Si3N4, SiO2-SnO2, SiO2-B2O3 и системы Cu-Se, обусловленные включениями второй фазы
- Дифракционная поляризация рентгеновских лучей и экстинкция в реальных кристалах
- Моделювання дефектоутворення під час вирощування бездислокаційних монокристалів кремнію
- Молекулярная структура и динамика жидких кристаллов по данным метода многомасштабного моделирования молекулярной динамики
- Электрон-дырочные комплексы в квантовых ямах и в квантовых проволоках
- Магниторезонансные исследования псевдокубических манганитов, обладающих колоссальным магнетосопротивлением
- Радиационно- и фотостимулированное дефектообразование в активированных оксидных и фторидных стеклах