Введение
Глава 1. Исследование методов и средств атомноэмиссионного
спектрального анализа
1.1 Назначение метода, его цели и задачи
1.2 Методы практического определения содержания элементов
1.2.1 Фотографический метод исследования
1.2.2 Фотоэлектрический метод исследования
1.3 Методы расчета погрешностей в спектральном анализе
1.3.1 Оценка погрешностей при фотографическом методе
1.3.2 Оценка погрешностей при фотоэлектрическом методе
1.4 Построение автоматизированных измерительных систем
1.4.1 Автоматизированные системы фотографического анализа.
1.4.2 Автоматизированные системы фотоэлектрического анализа.
1.5 Выводы
Глава 2.Разработка и оптимизация физической модели атомноэмиссионного анализа.
2.1 Принципы построения модели
2.1.1 Постановка задачи.
2.1.2 Исходные предпосылки
2.2 Основные уравнения модели.
2.3 Формирование физической модели при фотографическом анализе .
2.3.1 Вывод основных уравнений
2.3.2 Принципы расчета процентного содержания элементов методом спектральной матрицы
2.3.3 Графоанапитический метод определения содержания элементов
2.3.4 Модель аналитического расчета методом контрольного эталона
2.4 Правила подбора аналитических пар
2.5 Фотоэлектрический метод анализа
2.5.1 Особенности фотоэлектрического анализа.
2.5.2 Основные уравнения.
2.5.3 Графоаналитический метод расчета.
2.6 Выводы.
Глава 3.Методологические принципы анализов с использованием
виртуальных эталонов.
3.1 Особенности использования виртуальных эталонов.
3.2 Условия создания систем с виртуальными эталонами.
3.2.1 Сущность метода энергетической совместимости.
3.2.2 Метод многопараметровых функциональных зависимостей
3.2.3 Разработка принципа энергетической совместимости.
3.3 Постановка задач дальнейших исследований.
3.4 Краткий обзор рассматриваемых методов
3.5 Выводы.
Глава 4.Методики и программное обеспечение фотографического анализа
4.1 Теоретические основы метода
4.2 Структура программного обеспечения метода одного эталона
4.2.1 Режим контрольного эталона
4.2.2 Состав базы данных
4.3 Порядок работы в режиме контрольного эталона
4.4 Сущность режимов программного анализа.
4.4.1 Графический режим расчета .
4.4.2 Аналитический режим расчета
4.5 Методика выполнения количественных анализов.
4.5.1 Порядок выбора и правила пользования Стандартными Образцами .
4.5.2 Порядок проведения анализов
4.6 Совместимость виртуальных эталонов и Стандартных Образцов
4.7 Разработка алгоритмов количественных анализов
4.7.1 Алгоритм градуировки и корректирования
4.7.2 Последовательность градуирования на примере хрома в литейном никеле ВЖЛУ
4.7.3 Алгоритм выполнения текущих анализов
4.7.4 Алгоритм использования Стандартных Образцов Предприятия
4.8 Выводы.
Глава 5. Разработка способов совершенствования обработки результатов
измерений
5.1 Актуальность проблемы
5.2 Теоретические основы метода обработки
5 .3 Алгоритм экспресс анализов для приближенных расчетов
5.4 Алгоритм определения коэффициента возбуждения
5.5 Экспериментальная проверка.
5.6 Разработка методики экспресс анализов для уточненных расчетов
5.6.1 Струюура программного обеспечения.
5.7 Порядок выполнения анализов
5.7.1 Аналитический расчет
5.7.2 Графический расчет
5.8 Выводы.
Глава 6.Автоматизированный измерительновычислительный комплекс
фотографического спектрального анализа.
6.1 Особенности организации аппаратной части комплекса.
6.2 Состав и работа программного обеспечения.
6.3 Определение положения спектральных линий.
6.4 Расчет динамической погрешности измерения
6.5 Разработка электронной приставки к микрофотометрам.
6.6 Выводы.
Глава 7.Исследование и разработка методов анализа на основе матричных
анализаторов спеюра
7.1 Физические основы и принцип действия атомноэмиссионных матричных анализаторов спеюра
7.1.1 Постановка задачи.
7.1.2 Принцип действия матричных анализаторов.
7.2 Принцип действия фотоэлектрических матричных анализаторов
7.2.1 Особенности предлагаемой системы
7.2.2 Порядок проведения анализов.
7.3 Принцип действия анализаторов на основе статоскопов
7.3.1 Постановка задачи исследования
7.3.2 Порядок проведения анализов1
7.4 Принцип действия фотографических матричных анализаторов
7.4.1 Особенности предлагаемой системы
7.4.2 Порядок проведения анализов.
7.5 Методы решения проблемы входного контроля
7.6 Принципы автоматизации матричных анализаторов
7.7 Программное обеспечение для матричных анализаторов.
7.8 Выводы.
Глава 8.Разработка метрологических средств поверки спектрального
анализа по государственным стандартным образцам
8.1 Фотоэлеюрическая система МАСДЛ.
8.1.1 Условия проведения испытаний
8.1.2 Методика проведения поверки.
8.1.3 Результаты поверки
8.2 Принципы метрологической поверки фотографического анализа
8.2.1 Условия проведения испытаний
8.2.2 Методика проведения расчетов.
8.2.3 Полученные результаты.
8.3 Полученные результаты на установке ФОТОС3 М
8.4 Выводы
Заключение .
Список литературы
- Київ+380960830922