Вы здесь

Моделирование эксперимента по определению комплексной диэлектрической проницаемости на СВЧ в условиях интенсивного нагрева

Автор: 
Чипчин Никита Евгеньевич
Тип работы: 
диссертация кандидата технических наук
Год: 
2006
Количество страниц: 
137
Артикул:
16458
179 грн
Добавить в корзину

Содержимое

ВВЕДЕНИЕ
1. НАТУРНЫЙ ЭКСПЕРИМЕНТ РАДИОВОЛНОВЫХ МЕТОДОВ КОНТРОЛЯ РАДИОПРОЗРАЧНЫХ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ МАТЕРИАЛОВ В УСЛОВИЯХ ИНТЕНСИВНОГО НАГРЕВА
1.1. Электродинамические и радиотехнические параметры диэлектрических материалов и конструкции в диапазоне свч
1.2. Влияние условий эксплуатации на свойства диэлектрических свч конструкций
1.3. Применение натурных экспериментов для прогнозирования поведения диэлектрических конструкций в условиях эксплуатации
1.4. Моделирование поведения радиотехнических изделий, содержащих диэлектрические материалы, при изменении условий эксплуатации
1.5. Постановка задач исследования Выводы
2. МАТЕМАТИЧЕСКИЕ МОДЕЛИ ПРОЦЕССА ЗОНДИРОВАНИЯ ЭЛЕКТРОМАГНИТНОЙ ВОЛНЫ ЧЕРЕЗ СЛОЙ ДИЭЛЕКТРИКА
2.1. Особенности моделирования процесса натурных радиоволновых измерений параметров диэлектриков при нагреве
2.2. Прохождение электромагнитной волны через однородный диэлектрический слой
2.3. Прохождение электромагнитной волны через систему неоднородных диэлектрических слов
2.4. Экстраполяционная модель метода обработки результатов измерений параметров диэлектриков при
высокотемпературном нестационарном нагреве Выводы
3. МАТЕМАТИЧЕСКОЕ МОДЕЛИРОВАНИЕ МЕТОДОВ
ОБРАБОТКИ РЕЗУЛЬТАТОВ ИЗМЕРЕНИЙ ПАРАМЕТРОВ ДИЭЛЕКТРИКОВ ПРИ ВЫСОКОТЕМПЕРАТУРНОМ НЕСТАЦИОНАРНОМ НАГРЕВЕ
3.1. Спектральное представление температурных зависимостей параметров диэлектриков
3.2. Спектральная модель процесса обработки результатов измерения еТ и 5, выбор функционального уравнения
3.3. Решение функциональных уравнений методами оптимизации
3.4. Оценка применимости различных функционалов в спектральном методе моделирования

4. МАШИННОЕ МОДЕЛИРОВАНИЕ ПРОЦЕССА ОБРАБОТКИ
4.1. Формирование библиотеки входных данных для алгоритмов обработки результатов измерения параметров диэлектриков
4.2. Разработка алгоритма и программы обработки исходных данных
4.3. Разработка алгоритма и программы восстановления спектральным методом зависимости т при нагреве
4.4. Тестирование, применение и анализ программы Выводы
ЗАКЛЮЧЕНИЕ
ЛИТЕРАТУРА
ПРИЛОЖЕНИЯ
0 3
ВВЕДЕНИЕ
Актуальность