ОГЛАВЛЕНИЕ
Введение.
Глава 1. Теоретический обзор.
1.1 Рефракция света в однородноориентированных слоях ЖК с изменяющимся направлением директора.
1.2 Методы получения наклонной ориентации директора жидкого кристалла на границах жидкокристаллического слоя
1.3 Методы измерения угла наклона директора жидкого
кристалла на границах жидкокристаллического
Глава 2. Поляриметрический метод измерения угла наклона директора
2.1 Теоретические основы поляриметрического метода определения угла наклона директора ЖК 2.2 Экспериментальная установка для определения угла наклона директора и результаты измерения углов наклона
Глава 3. Исследование влияния электрического поля на рефракцию света в слое кирального
жидкого кристалла.
3.1 Теоретическое рассмотрение влияния электрического ноля на рефракцию света в слое жидкого кристалла с директора поворотом на 0 градусов.
3.2 Жидкокристаллическая ячейка и экспериментальная установка для исследования влияния электрического поля на рефракцию света в слое кирального ЖК с поворотом директора на 0 градусов.
3.3 Исследование влияния переменного синусоидального электрического поля на рефракцию необыкновенной волны в слое кирального ЖК с поворотом директора на 0 градусов.
Выводы.
Список цитируемой литературы
- Киев+380960830922