- Київ+380960830922
Ви є тут
Введіть ключові слова для пошуку дисертацій:
Исследование границы раздела и приповерхностных слоев полупроводника в системах электролит-полупроводник с помощью емкостных методов
Тип роботи:
Кандидатская
Рік:
2013
Артикул:
324420 179 грн
Рекомендовані дисертації
- Разработка базовых функциональных структур для детекторного модуля ионизирующих излучений
- Ферромагнетизм при комнатной температуре полупроводников на основе кремния и диоксида титана
- Атомная и электронная структура поверхности и фазообразование в многослойных композициях на основе кремния
- Разработка, исследование свойств и оптимизация характеристик мощных InGaAsP/InP лазеров
- Анализ областей несмешиваемости квазибинарных твердых растворов III-V и II-VI групп
- Люминесценция и поглощение излучения среднего ИК диапазона в наноструктурах с квантовыми ямами в условиях разогрева носителей заряда
- Полупроводниковые силициды хрома, железа и магния на Si(111)
- Электрические и фотоэлектрические свойства полупроводниковых сплавов n-Bi1-xSbx
- Электронные и сорбционные процессы в сенсорах на основе гетероструктуры кремний / металлоксидный полупроводник
- Исследование состава и структурного совершенства полупроводниковых гетероэпитаксиальных систем методом электроотражения