- Київ+380960830922
Ви є тут
Введіть ключові слова для пошуку дисертацій:
Исследование структурных и электрофизических характеристик пленок на основе ?-Si:H, полученных в плазме НЧ разряда
Тип роботи:
Кандидатская
Рік:
2005
Артикул:
452747 179 грн
Рекомендовані дисертації
- Моделирование диффузии примесей в полупроводниках при неравновесных условиях
- Генерационно-рекомбинационные эффекты горячих носителей заряда в компенсированных полупроводниках
- Исследование влияния объемного заряда на характеристики тонкопленочных электролюминесцентных излучателей на основе сульфида цинка, легированного марганцем
- Свойства осаждённых из лазерной плазмы разбавленных магнитных полупроводников на основе GaSb, Si и Ge, легированных Mn или Fe
- Магнитные свойства и проводимость кристаллов группы флюорита, содержащих ЯН-теллеровские комплексы примесных d-ионов
- Исследование газочувствительности тонких пленок оксида олова и возможности их применения для распознавания газов
- Процессы испарения и кристаллизации окисных сло#в на германии
- Термоактивационные процессы с участием медленных электронных ловушек в халькогенидах цинка
- Механизмы стабилизации фотолюминесценции квантоворазмерных структур на основе кремния и карбида кремния
- Квантовые явления в 2D наноструктурах пониженной симметрии : 2D-дырки на поверхности монокристаллического теллура