- Київ+380960830922
Ви є тут
Введіть ключові слова для пошуку дисертацій:
Исследование структурных и электрофизических характеристик пленок на основе ?-Si:H, полученных в плазме НЧ разряда
Тип роботи:
Кандидатская
Рік:
2005
Артикул:
452747 179 грн
Рекомендовані дисертації
- Формирование тонких пленок и наноструктур в системе Mn/Si(111)
- Электронные спектры Cd Ga/2 Se/4 и Cd Ga/2 S/4 в области 2- 6 эВ
- Электронные процессы в гетероструктурах на основе монокристаллического кремния и неупорядоченных материалов
- Энергетический спектр и механизмы релаксации носителей заряда в легированных кристаллах висмута, сурьмы и сплавов висмут-сурьма
- Резонансы и локализованные состояния в сложных наноструктурах
- Влияние состояния ионов и дефектов нестехиометрии на электромагнитные явления в ферримагнитных полупроводниках
- Морфология эпитаксиальных слоёв при неизотропной атомной диффузии : Моделирование
- Особенности электронного строения аморфных пленок кремния и карбидов кремния
- Видимая и ближняя инфракрасная фотолюминесценция тонких пленок гидрогенизированного кремния
- Диэлектрические потери в щелочно-галоидных кристаллах с дислокациями в килогерцевом диапазоне