- Киев+380960830922
Вы здесь
Введите ключевые слова для поиска диссертаций:
Исследование структурных и электрофизических характеристик пленок на основе ?-Si:H, полученных в плазме НЧ разряда
Тип работы:
Кандидатская
Год:
2005
Артикул:
452747 179 грн
Рекомендуемые диссертации
- Перенос заряда в аморфных диэлектрических слоях структур металл-диэлектрик-полупроводник в сильных электрических полях
- Метастабильность состояния в легированных бором и фосфором пленках a-Si:H, возникающие под влиянием внешних воздействий
- Оптические свойства полупроводниковых соединений ZnIn2S4, CdGa2S4 и CdGa2Se4
- Динамика электронных состояний в слоистых системах на основе эпитаксиальных феррит-гранатовых пленок
- Электронный транспорт в GaAs структурах при радиационном воздействии
- Структура и оптические свойства тонкопленочных полупроводниковых соединений на основе кремния, синтезированных импульсными энергетическими воздействиями
- Особенности излучательной рекомбинации низкоразмерных гетероструктур InGaAs/AlGaAs и GaAs/AlGaAs
- Особенности электронно-энергетического строения наноразмерных структур на основе кремния и фосфидов типа А3В5
- Структурная модификация свойств пленок аморфного углерода
- Получение и исследование гетероструктур и приборов на основе твердых растворов InGaAsP