Ви є тут

Разработка измерительного комплекса для контроля и исследования субмикронной КМОП технологии электрофизическими методами

Автор: 

Орешков Максим Викторович

Тип роботи: 

Кандидатская

Рік: 

2012

Артикул:

1005475360

179 грн

Додати в кошик

• 
• 
• 

Рекомендовані дисертації

• Моделирование процессов образования пористого кремния и гомоэпитаксии на его поверхности
• Особенности формирования и физические свойства наноразмерных структур на основе висмута
• Магнитооптика и экситонное поглощение в тонких кристаллах и гетероструктурах на основе арсенида галлия
• Метод расчета и моделирования функциональных схем
• Свойства пленочных микро- и наноструктур с диэлектрическими слоями на основе оксидов редкоземельных элементов
• Электронные и оптические явления в системах кремниевых нанокристаллов
• Исследование газочувствительности тонких пленок оксида олова и возможности их применения для распознавания газов
• Влияние условий роста на структуру и свойства эпитаксиальных слоев (SiC)1-x (AlN) x
• Оптические исследования эффектов влияния спонтанного упорядочения атомов на свойства твердых растворов InGaP2 , In x Ga1-x As и GaAs1-x Sb x
• Особенности электронно-энергетического строения наноразмерных структур на основе кремния и фосфидов типа А^3 В^5