Ви є тут

Разработка измерительного комплекса для контроля и исследования субмикронной КМОП технологии электрофизическими методами

Автор: 

Орешков Максим Викторович

Тип роботи: 

Кандидатская

Рік: 

2012

Артикул:

1005475360

179 грн

Додати в кошик

• 
• 
• 

Рекомендовані дисертації

• ЭПР примесных центров и некоторые СВЧ характеристики слоистых кристаллов
• Регулирование свойств керамических материалов на основе оксидных соединений с перовскитовой и шпинелевой структурой введением малых добавок
• Резонансное и брэгговское рассеяние быстрых электронов от совершенных поверхностей InAs и GaAs в дифракции на отражение
• Магнитооптические свойства квазиодномерных структур с водородоподобными примесными центрами
• Анизотропия магнитооптического поглощения в полупроводниковых многоямных квантовых структурах с примесными молекулами
• Моделирование физических явлений в инноимплантированных приборных структурах на основе соединений A III B U
• Арсенид галлия
• Калорические, термические и электрофизические свойства твердых растворов Ba1-xCexTiO3
• Исследование одноуровневого и многоуровневого режимов генерации в полупроводниковых лазерах на основе квантовых точек InAs/InGaAs
• Получение и исследование гетероструктур и приборов на основе твердых растворов InGaAsP