Вы здесь

Разработка измерительного комплекса для контроля и исследования субмикронной КМОП технологии электрофизическими методами

Автор: 

Орешков Максим Викторович

Тип работы: 

Кандидатская

Год: 

2012

Артикул:

1005475360

179 грн

Добавить в корзину

• 
• 
• 

Рекомендуемые диссертации

• Размерные эффекты и релаксационные явления в квазиодномерных проводниках с волной зарядовой плотности
• Исследование влияния добавок Pb, Sn, Tl, Bi на электрофизические свойства систем Ge-Se и Ga-Te
• Фотолюминесценция в поликристаллических слоях на основе твердых растворов селенида свинца-селенида кадмия
• Поверхностные состояния и особенности электропроводности квазидвумерных электронных слоев в МДП- и гетеротранзисторах
• Низкотемпературная жидкофазная эпитаксия A^III B^V - наногетероструктур и оптоэлектронных приборов на их основе
• Низкочастотный шум в светодиодах на основе квантоворазмерных InGaN/GaN структур
• Гетероструктуры с квантовыми точками InGaAs/AlGaAs/GaAs и InAs/InGaAs/InP для лазерных применений
• Одномерная электронная жидкость на краю двумерной электронной системы в режиме квантового эффекта Холла
• Излучательная комбинация в арсениде галлия, легированном изовалентными примесями In, Sb, Bi, и в неоднородных твердых растворах на его основе
• Особенности спин-орбитального взаимодействия в сложных гетероструктурах