Вы здесь

Разработка измерительного комплекса для контроля и исследования субмикронной КМОП технологии электрофизическими методами

Автор: 

Орешков Максим Викторович

Тип работы: 

Кандидатская

Год: 

2012

Артикул:

1005475360

179 грн

Добавить в корзину

• 
• 
• 

Рекомендуемые диссертации

• Оптические свойства полупроводников со структурой типа TlSe
• Напряженные квантово-размерные структуры и сверхрешетки в системе InGaAsP/InP
• Исследование диффузии цинка из полимерных диффузантов в полупроводники A3 B5 : На примере InP
• Квантовые точки I и II типа
• Резонансы и локализованные состояния в сложных наноструктурах
• Неразрушающая диагностика электронных свойств структур на основе SiC и GaAs/AlGaAs
• Принципы построения и свойства гетероструктур на основе соединений III-N, полученных методом молекулярно-лучевой эпитаксии
• Математические модели процессов, протекающих на границе \"полупроводник - газ\" и межфазных границах структуры \"металлическая плёнка - полупроводник\", помещённой в активный газ
• Электрические свойства сверхрешеток из квантовых точек
• Полупроводниковые самоорганизованные наноматериалы - нелинейные системы с фрактальной размерностью