ОГЛАВЛЕНИЕ
ВВЕДЕНИЕ
ГЛАВА 1. АНАЛИТИЧЕСКИЙ ОБЗОР ЛИТЕРАТУРЫ.
1.1. Актуальность применения силицида i в микроэлектронике.
1.2. Некоторые основные свойства дисилицида кобальта.
1.2.1. Диаграмма состояния i.
1.2.2. Кристаллическая структура i2.
1.2.3. Теплофизические свойства .
1.3. Ионный синтез эпитаксиальных силицидов.
1.3.1. Особенности технологии получения проводящих слоев
ионной имплантацией.
1.3.2. Некоторые элементы теории ионной имплантации.
Выводы к главе 1.
ГЛАВА 2. МЕТОДИКИ ИОННОГО СИНТЕЗА И
ИССЛЕДОВАНИЯ ИМПЛАНТИРОВАННЫХ СТРУКТУР.
2.1. Эксперимент.
2.2. Методики ИЛС.
2.2.1. Ионная имплантация.
2.2.2. Высокотемпературный диффузионный отжиг.
2.3. Методики исследования полученных структур.
2.3.1. Вторичная ионная массспектромстрнн ВИМС.
2.3.1.1. Аппаратура для исследования
2.3.1.2. Методика получения массспектра и глубинного профиля и выбор параметров профилирования
2.3.1.3. Порядок проведения измерений
2.3.2. Профилометрия
2.3.2.1. Аппаратура для исследования
2.3.3. Рентгеновская дифрактометрия
2.3.3.1. Оборудование
2.3.4. Просвечивающая электронная микроскопия ПЭМ
2.3.5. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия РФС
2.3.6. Рамановская спектроскопия
2.3.7. Измерение удельного электросопротивления
2.4. Расчет профилей распределения кобальта в кремнии.
2.4.1. Учет травления поверхности мишени во время
имплантации
2.4.2 Сравнение расчетных профилей распределения ионов по глубине с результатами ВИМС
Выводы к главе 2.
ГЛАВА 3. ВЛИЯНИЕ РЕЖИМОВ ИОННОГО СИНТЕЗА НА
ФОРМИРОВАНИЕ СКРЫТЫХ ПРОВОДЯЩИХ СЛОЕВ СоЯ
3.1. Образование и рост зародышей СоБ во время имплантации
3.2. Формирование слоев СоЯ во время температурной
обработки
Выводы к главе 3.
ГЛАВА 4. ФАЗООБРАЗОВАНИЕ СКРЫТЫХ СЛОЕВ Со8Ь ВО
ВРЕМЯ ИОННОГО СИНТЕЗА
4.1. Модель образования скрытых проводящих слоев Со1г.
4.2. Образование и рост зародышей во время имплантации.
4.3. Термически активируемый рост и коалесценция
зародышей.
Выводы к главе 4.
ЗАКЛЮЧЕНИЕ
СПИСОК ЛИТЕРАТУРЫ
- Київ+380960830922