Ви є тут

Получение и исследование электрофизических свойств объемных и пленочных материалов в тройной системе Co-Ge-Te

Автор: 
Иман Абдель-Монем Эль-Сайед Махди
Тип роботи: 
кандидатская
Рік: 
2011
Кількість сторінок: 
156
Артикул:
138342
179 грн
Додати в кошик

Вміст

Содержание
Введение
Глава Обзор Литературы
1.1 Диаграмма состояния бинарной системы СсТе и свойстова СеТе
1.2 Тройные соединения в системе СовеТе.
1.3 Германиды кобальта различного состава в бинарной системе Со
1.4 Тсллуриды кобальта различного состава в бинарной системе СоТе
Глава II Экспериментальные методы
2.1 риготовление образцов.
2.1.1 Калибровка печи.
2.1.2 Приготовление объемных образцов.
2.1.2.1 Синтез веТе
2.1.2.2 Приготовление сплавов СеСоТе.
2.1.2.3 Приготовление тонких пленок
2.2 Экспериментальная техника для изучения объемных и топкопленочных
образцов
2.3 Ренгенофазовой фнфлиз РФАХЯО
2.4 Электронная микроскопия.
2.4.1 Сканирующая электронная микроскопия СЭМ и энергодисперсионный рентгеновский микроанализ ЕИХМА
2.4.2 Просвечивающая электронная микроскопия ЭМ.
2.4.3 Атомносиловая микроскопия АСМ
2.5 Измерение толщины тонкопленочных образцов.
2.6 Оптические измерения
2.6.1 ИКспектры
2.6.2 Спектроскопия видимого диапазона для тонкопленочных образцов. .
2.7 Измерение проводимости тонких пленок на постоянном токе
2.8 Измерения сегнетоэлектричества, идентификация гистерсзисной петли.
Глава ШСинтез и свойства объемных материалов в двойной системе
веТе и тройной системе СовеТе, полученных в форме слитков
3.1 Рентгеновский микроанализ.
3.2 Рентгеновская дифракция объмных сплавов
3.2.1 РФА веТе,синтезированного в форме слитка.
3.2.2 РФА тройных сплавов СохОе5охТе5о.
3.2.3 РФА тройных сплавов СохОез5Тех.
3.2.4 Рентгеноструктурные исследования тройных сплвов СозеззТс и Со,5ССз2,5Тезз
3.3 Электронная микроскопия объемных образцов.
3.3.1 Сканирующая электронная микроскопия СЭМ.
3.3.2 Просвечивающая электронная микроскопия ПЭМ
3.4 Инфракрасное поглощения от порошкообразных образцов,
приготовленных из объемных сплавов СовеТс.
3.5 Ферроэлектрические свойства. Петля гистерезиса с использованием
схемы Сойера Тауэра
3.6 Атомносиловая микроскопия АСМ
3.6.1 Электростатическая силовая микроскопия ЭСМ и пьезоотклик
силовой микроскопии полученных обемных и тонкопленочных
образцов
3.6.2 Магнитносиловая микроскопия обемных образцов
Глава IV Получение и свойства аморфных тонких пеленок и .
4.1 Приготовление тонких пленок и измерения толщин
4.2. Результаты рентгеновского микроанализа тонких пленок
4.3. Дифракция рентгеновских лучей.
4.4. Оптические свойства.
4.4.1 Собственное поглощение
4.5 Электропроводность i постоянном токе
Основные результаты и выводы
Литература